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原子力显微镜探针选择及常见故障解决方法

发布时间:2018-06-03 08:25

  本文选题:原子力显微镜 + 轻敲模式 ; 参考:《实验室研究与探索》2014年07期


【摘要】:基于针尖和样品之间的各种相互作用力,原子力显微镜(AFM)可用于样品表面形貌、摩擦力等各种物理特性的研究,它是纳米科技研究中一个重要工具。影响AFM测量图像质量的因素很多,如振幅参数、积分增益I、比例增益P、衰减增益和扫描速度等,而探针同样是提高样品表面形貌像成像质量的关键。通过采用控制变量法,并以均方根粗糙度Rq作为评判标准,用不同参数的探针测量同一样品。实验结果表明,探针的共振频率f、弹性系数k、曲率半径Rh等对测量样品粗糙度均有较大影响,可选择合适的探针,提高成像质量。同时,针对仪器使用中出现的一些常见现象及故障,作出了解释和解答。
[Abstract]:Based on the interaction between the tip and the sample, AFM (Atomic Force microscope) can be used to study the surface morphology, friction and other physical properties of the sample, which is an important tool in the research of nanotechnology. There are many factors that affect the image quality of AFM, such as amplitude parameter, integral gain I, proportional gain P, attenuation gain and scanning speed, etc. The probe is also the key to improve the imaging quality of surface topography image. By using the control variable method and RQ as the criterion, the same sample was measured with the probe of different parameters. The experimental results show that the resonance frequency f, elastic coefficient k and curvature radius Rh of the probe have great influence on the measurement of the roughness of the sample. The appropriate probe can be selected to improve the imaging quality. At the same time, some common phenomena and faults in the use of the instrument are explained and solved.
【作者单位】: 暨南大学物理系思源实验室;
【基金】:国家自然科学基金青年科学基金项目(61106093);国家自然科学基金面上项目(51072236)
【分类号】:TH742.9

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