以氩气为粗漏示踪气体的积累氦质谱组合检测方法

发布时间：2018-10-23 16:40

【摘要】：介绍了积累氦质谱检漏仪的出现和积累氦质谱组合检测方法的提出,分析了现行美国军用标准采用的以氦气为粗漏细漏示踪气体组合检测方法的局限性,介绍了改进这种方法的发明专利,指出改进后在适用严密等级τHemin和内腔容积V范围方面的局限性。论述了以氩气为粗漏示踪气体、以氦气为细漏示踪气体的积累氦质谱组合检测方法的优越性,给出了设计这种专利方法的逻辑思路和理论公式,指出这种方法对需要检测的τHemin和V范围,具有良好的适用性,并且提出了改进积累氦质谱检漏仪的要求。
[Abstract]:The appearance of accumulative helium mass spectrometer and the combined detection method of accumulative helium mass spectrometry are introduced. The limitation of the combined detection method using helium gas as coarse leakage and fine leak tracer gas adopted in the current US military standard is analyzed. This paper introduces the invention patent of improving this method, and points out the limitation of the improved method in applying the strict grade 蟿 Hemin and the scope of the volume V of the cavity. The superiority of the combined detection method of accumulative helium mass spectrometry with argon gas as coarse leak tracer gas and helium gas as fine leak tracer gas is discussed. The logical thinking and theoretical formula for designing this patented method are given. It is pointed out that this method has good applicability to the 蟿 Hemin and V range to be detected, and the requirement of improving the leak detector for accumulative helium mass spectrometry is put forward.
【作者单位】： 北京市科通电子继电器总厂有限公司;
【分类号】：TN606;TH843

【参考文献】

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【共引文献】

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本文编号：2289858