亚表面损伤测量技术中全内反射粗定位系统的研究
发布时间:2020-02-05 08:07
【摘要】:光学元件的亚表面损伤严重影响着光学系统的抗激光损伤阈值和大型光学系统的成像及镀膜质量、系统的长期稳定性,很大程度上制约了能源、军事、航天等高新技术科研领域的发展。因此,对光学元件亚表面损伤的控制成为相关领域一项至关重要的技术。传统光学对亚表面损伤问题的关注极少,随着入射光源能量的不断提升,尤其在高功率激光领域,亚表面裂纹的控制才能越来越受人们的关注。本文研究了基于光的全内反射原理获得光学元件亚表面损伤信息的一种测量方法。首先分析了照明光源的偏振状态对亚表面损伤点的偶极子散射特性,研究了全内反射角的变化对偶极子散射的影响,讨论了亚表面裂纹情况下,裂纹和S偏振光之间夹角与相对散射功率之间的关系,通过Matlab软件的仿真模拟出了参量之间的关系。其次通过原理的分析和公式推导得到全内反射粗定位系统关键部件的设计:一是对照明系统光路的设计;二是对显微成像系统中渥拉斯顿棱镜、诺马斯基棱镜的设计,确定了渥拉斯顿棱镜的楔角、厚度等参数关系,模拟仿真了诺马斯基棱镜光轴倾角、楔角、厚度、相干平面出离量等参数之间的关系。最后装调实验装置并观察样品的表面及亚表面状况。
【图文】:
美国国家点火装置(NIF)结构示意图
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本文编号:2576594
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美国国家点火装置(NIF)结构示意图
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