基于衍射光栅的外差Littrow式精密位移测量系统关键技术研究
发布时间:2020-06-02 01:52
【摘要】:精密测量技术是现代加工和制造领域的基础,兼顾大量程、高精度、多维度的精密测量设备对推动先进加工业和制造业的发展有非常重要的意义。光栅位移测量系统作为一种精密位移测量设备,以其精度高、量程大、结构简单紧凑、受环境影响小等优点备受国内外研究学者关注,相关产品已经广泛应用于多种精密测量的场合。目前对光栅位移测量系统的研究虽然很多,但是该系统还存在着大量程与高分辨力、高精度之间的矛盾,多维度与小体积、大量程之间的矛盾等问题。这些问题严重限制了光栅位移测量系统的应用,制约了其向小型化、商品化方向发展。鉴于此,本文对基于衍射光栅的外差Littrow式精密位移测量系统的关键技术进行研究,旨在解决上述矛盾,为光栅位移测量系统向产业化发展奠定坚实的基础。本文具体研究内容如下:第一,研究了基于衍射光栅的精密位移测量系统的测量理论。用严格的耦合波理论建立了分析一维梯形光栅衍射效率的理论模型;利用Doppler频移原理、光的干涉原理和位移转换原理推导了位移测量的基本原理;列举了偏振光和常用偏振光学元件的琼斯矩阵表示方法。第二,提出了一个小型化、高精度、外差式光栅二维位移测量系统。理论分析了Littrow结构进行二维位移测量的基本原理以及光栅、读数头和位移平台之间的偏摆关系对该系统位移测量的影响;搭建了原理样机并与双频激光干涉仪进行了位移测量对比实验,在两个维度上实现了最小分辨力3nm,测量范围10mm的高精度位移测量,系统还具有优于激光干涉仪的静态稳定性;该二维位移测量系统结合Littrow结构和外差测量原理,读数头结构简单,便于集成和安装,测量范围大,精度高,对光栅位移测量系统向产品化发展有重要意义。第三,提出了衍射光栅五维自由度精密测量系统。理论分析了利用衍射光栅结合位置灵敏探测器进行三维角度测量的基本原理;在二维位移测量系统的基础上引入高精度位置灵敏探测器搭建了原理样机并与双频激光干涉仪和光电自准直仪进行了位移及角度测量对比实验,实现了分辨力3nm的高精度二维位移测量以及分辨力优于1?的高精度三维角度测量;该五维自由度精密测量系统结构简单易集成,分辨力和精度高,位移测量范围大,实用性强,对多维度光栅位移测量系统向产品化发展有重要意义。第四,系统分析了光栅对外差Littrow式光栅位移测量系统位移测量的影响。模拟了光栅与读数头之间的位置误差对位移测量的影响,揭示了光栅偏摆误差是系统最为敏感的误差,对系统的装调以及测量环境的选择有重要的指导意义;利用几何光学原理建立了光栅面形误差、刻线误差对外差Littrow式光栅位移测量系统位移测量影响的理论模型,提出了一种快速检测和计算该误差的方法,搭建了外差Littrow式光栅位移测量系统原理样机并与双频激光干涉仪进行了位移测量对比实验,实验验证了该方法的正确性并且具有速度快、精度高的特点,对提升系统精度有重要意义;利用琼斯矩阵分析方法建立了Littrow式光栅位移测量系统光学元件偏振特性与信号强度之间关系的理论模型,模拟了光栅的衍射效率和偏振特性对位移测量的影响,揭示了光栅?1级衍射光对P光和S光衍射效率不同对非线性误差影响最大,对于光栅的设计和系统精度的提升有重要的理论意义。第五,提出了一种大量程、高精度的外差式光栅一维位移测量系统。采用光栅交错拼接的方式扩大了系统量程,利用双层Littrow结构设计了小型化的读数头,搭建了原理样机并与双频激光干涉仪进行了位移测量对比实验,验证了原理的正确性,实现了量程50mm,分辨力3nm的高精度位移测量;模拟了交错拼接光栅的拼接过程,为光栅的制作奠定了基础;该一维位移测量系统测量范围大、精度高、读数头结构简单,对光栅位移测量系统向大量程、高精度发展有重要意义。
【图文】:
多领域倍受世人关注。光栅位移测量系统是光栅在计精度的光栅犹如一把精确的量尺,为微小位移的测量扩大量程、提高精度、提高分辨力、扩大维度、缩小射光干涉原理的光栅位移测量系统国内外研究现状。究现状光栅周期减小导致的衍射现象对测量信号的影响较大移测量系统的分辨力和精度,1987 年,德国 Heiden提出了能够实现纳米级测量的光栅位移测量系统,P 等[27-29]系列产品都是采用此原理的光栅位移测量系统图。这类产品一般采用两块栅距为 8μm 或 4μm 的光栅,测量光栅 G2为反射光栅。LED 光源 S 发射的光经上,经过两光栅衍射后,,最终的干涉信号分别被三个光
GDL1L2L3图 1.7 微型光栅位移测量系统原理图e 1.7 Schematic diagram of micro diffraction grating interferometer dmeasurement system Physik Instrumente 公司[43]利用马赫-森德干涉仪原理设计了器,其原理结构如图 1.8 所示。该编码器结构紧凑,mm×5mm,分辨力可达 20pm。这项技术应用于该公司推出位移平台(图 1.9)中,可实现最小位移 2nm,最大行程分2mm 的高精度位移。
【学位授予单位】:中国科学院大学(中国科学院长春光学精密机械与物理研究所)
【学位级别】:博士
【学位授予年份】:2019
【分类号】:O436.1;TH822
本文编号:2692420
【图文】:
多领域倍受世人关注。光栅位移测量系统是光栅在计精度的光栅犹如一把精确的量尺,为微小位移的测量扩大量程、提高精度、提高分辨力、扩大维度、缩小射光干涉原理的光栅位移测量系统国内外研究现状。究现状光栅周期减小导致的衍射现象对测量信号的影响较大移测量系统的分辨力和精度,1987 年,德国 Heiden提出了能够实现纳米级测量的光栅位移测量系统,P 等[27-29]系列产品都是采用此原理的光栅位移测量系统图。这类产品一般采用两块栅距为 8μm 或 4μm 的光栅,测量光栅 G2为反射光栅。LED 光源 S 发射的光经上,经过两光栅衍射后,,最终的干涉信号分别被三个光
GDL1L2L3图 1.7 微型光栅位移测量系统原理图e 1.7 Schematic diagram of micro diffraction grating interferometer dmeasurement system Physik Instrumente 公司[43]利用马赫-森德干涉仪原理设计了器,其原理结构如图 1.8 所示。该编码器结构紧凑,mm×5mm,分辨力可达 20pm。这项技术应用于该公司推出位移平台(图 1.9)中,可实现最小位移 2nm,最大行程分2mm 的高精度位移。
【学位授予单位】:中国科学院大学(中国科学院长春光学精密机械与物理研究所)
【学位级别】:博士
【学位授予年份】:2019
【分类号】:O436.1;TH822
【参考文献】
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本文编号:2692420
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