一种基于多孔硅折叠微腔器件免光谱仪的折射率检测新方法
【学位授予单位】:新疆大学
【学位级别】:硕士
【学位授予年份】:2018
【分类号】:TH744.1
【图文】:
图 1-1 PSi 1970-2018 国际研究历程 20 世纪 50 年代,Uhlir 等人在贝尔实验室发现了多孔硅(PSi),试期间在硅片上出现红棕色时[24]。最初归因于低氧化物种,PSi 几何科学研究人员的关注,直到 Canham 和同事的两个关键发现[9]
2-D 和 3-D PHC 的周期性结构图在过去的十年中,材料领域出现了前沿热点,主要研究方向是控制材料的光学特性。存在一类材料,光线禁止在材料内部传播,或者仅允许某些频率的某些方向传播,或者位于特定区域。这种系统由几何形状产生了光子带隙。在这些结
图 2-1 光通过 N 层叠层交替折射率传播的示意图对于横向电(TE)偏振的情况,通过非磁性层 n 1 和 n,(n|n 1)之间面的光的传播被描述为Εn,t+n,t= Tn|n 1Εn 1,b+n 1,b=1 00ηn 1cosθn 1ncosθnΕn 1,b+n 1,b(
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本文编号:2751713
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