基于时间相位解包裹的条纹投影三维测量方法研究
【学位授予单位】:南昌航空大学
【学位级别】:硕士
【学位授予年份】:2019
【分类号】:TP391.41;TH721
【图文】:
3图 1-1 三维测量技术的分类触式式是最为早期的三维形貌测量形式,其发展历史相当悠久,经坐标测量机。标测量机简称 CMM,它是建立在精密仪器及机械这门学科上的础,综合了计算机技术、光电技术和数控技术等。自从六十年标测量机诞生以来,不断发展和进步的相关科技技术为测量机平台,使其测量精度逐渐提高、速度越来越快。三坐标测量机主体部分是具有 X、Y、Z 三轴的机械系统,为测头的移动提供息的是测头系统,通常的组成元件是测头和接触式探针,获取过探针与被测对象的表面轻微接触;以及为测头提供移动动力
学硕士论文 第统和处理数据的软件系统。其工作机制是对空间坐标的采集和量对象接触时,控制系统采集此时三坐标轴相对于机床原点的,计算机系统处理这些数据信息来获取测量对象的三维坐标。,接触式的测量精度比非接触式的高,可以达到微米量级,但局限了它的发展。不足的地方有:测量对象的材质松软易变形数据时出现形变,则会使其测量精度受到影响;测量过程是逐较多;测量设备体积庞大移动困难,不利于现场测量。
双波长法又称为双波干涉法,它的依据是叠加原理。当两束频率和振动且相位差不变的光叠加时,在干涉场中形成明暗相间的干涉条纹。干涉度取决于它们的相位差,相位相等时会产生强度增强的条纹,相反则会减弱的条纹,介于之间的则会产生中间强度的条纹。这些干涉条纹可以这两束波的相对相位关系,被测物体的三维形貌信息就包含在这些相对中[7]。在实际测量中,利用产生的干涉条纹确定物体表面的高度分布。图该方法测量镜面的原理示意图,测量需要的设备有激光器、分光镜、参考镜器。分光镜将激光器发射的光束一分为二:一束是经分光镜反射到参考透过分光镜的参考光束;另一束是穿过分光镜经测试镜面反射回的测试光光束中包含了被测元件的面形信息。通过分析和处理探测器采集的参考试光束产生的干涉图即可获得被测镜面的面形分布。该方法测量结构简有效的回避基于三角法测量中的阴影问题,同时有较高的精度(可达波0)。但是测量系统对外界环境非常敏感,容易受到温度、湿度、压强等响,同时测量对象很小,只能测量微观物体,难以测量宏观物体。
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