基于倾斜场镜的C-T成像光谱仪优化设计

发布时间：2020-10-14 22:39

　　 残留谱线弯曲限制了切尔尼-特纳平面光栅光谱仪在成像光谱仪中的应用.本文不同于传统的基于棱镜的光栅谱线弯曲补偿方法,提出了基于倾斜场镜的补偿方法,即在校正场曲的同时对入射到场镜不同区域,不同波长的狭缝像分别进行谱线弯曲校正,且没有改变系统的其它光学特性.对狭缝大小为7.8mm×0.016mm、光谱范围0.31~0.5μm、光谱分辨率0.4nm、物方焦距70mm、1∶1放大倍率的切尔尼-特纳成像光谱仪进行了优化设计,结果全谱段、全视场MTF0.8,点列图RMS半径小于9μm,相对谱线弯曲小于0.2%,满足设计要求.实际设计表明该方法对于可选用光学玻璃有限,且能量较弱的紫外光学系统是一种可选的优化设计方法.
【文章目录】：
0 引言
1 C-T成像光谱仪像差校正基本原理
    1.1 C-T成像光谱仪的成像过程
    1.2 C-T成像光谱仪的基本像差校正
2 C-T成像光谱仪的谱线弯曲校正
3 光谱成像系统优化设计
4 结论

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本文编号：2841288