激光扫描测径仪的试验探索
发布时间:2017-04-13 15:05
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【摘要】: 激光扫描测径技术在现代工业生产检测中有着非常重要的作用和应用。本论文对激光扫描技术进行了全面论述,就激光扫描测量系统的工作原理、产生精度误差的原因等方面进行了详尽的理论分析,并且基于本实验室的实际条件就实验工作进行了具体实践,做出了有意义的实验探索。 围绕激光扫描测量系统,本文主要进行了以下几个方面的工作: 1.从光学扫描理论出发,详尽分析了激光扫描测量系统的工作原理,就系统各个工作部分的原理进行了详细的阐述。并就激光扫描测量技术和一些传统测量技术(如CCD接收测量技术)的优劣进行了理论和可行性方面的比较。 2.基于激光扫描测量系统的原理进行了实验研究,分解系统各个部分:光学部分、光电转换部分、单片机信号处理部分等,并分别进行实验实践,找出了切实可行的工件、配件和实验方法等。 3.对实验系统的精度误差进行了分析,包括理论分析和实验分析,找出造成误差的具体原因包括理论误差和机械工艺误差,并提出解决的方法。包括详细分析了激光束的聚焦和准直, f -θ透镜的应用原理等。 4.最后就实验的情况进行了分析总结,对实验的下一步进展提出了展望。总之,本文在对激光扫描测量系统进行的理论和实验的工作,在系统各个工作部分都取得了一定的实验成果,对后期实验的进行积攒了丰富的实践经验,具有一定的实验参考价值。
【关键词】:激光扫描 CCD 半导体激光器 f -θ透镜
【学位授予单位】:天津大学
【学位级别】:硕士
【学位授予年份】:2007
【分类号】:TH744.5
【目录】:
- 中文摘要2-3
- Abstract3-5
- 第一章 绪论5-12
- 1.1 激光扫描测量技术简介5-6
- 1.2 激光扫描测量的现状6-8
- 1.3 激光扫描技术应用目前的发展方向8-12
- 第二章 激光扫描测径系统的原理12-31
- 2.1 扫描光学系统12-15
- 2.2 激光扫描测径系统工作原理15-16
- 2.3 扫描光束产生部分16-18
- 2.4 扫描光束的接收部分18
- 2.5 信号的处理与显示部分18
- 2.6 其他一些测量方法以及特点18-31
- 第三章 激光扫描测径系统的实验实现方法31-40
- 3.1 光学部分实现方法31-35
- 3.2 光电转换部分的实现方法35-37
- 3.3 信号处理部分的实现方法37-40
- 第四章 激光扫描高精度测量的实现方法40-52
- 4.1 扫描光束的聚焦与准直40-44
- 4.2 f-θ透镜的原理与应用44-49
- 4.3 其它理论方面提高测量精度的方法49
- 4.4 软件提高测量精度的方法49-52
- 第五章 实验与测量精度分析52-60
- 5.1 初期实验52-55
- 5.2 精度分析55-58
- 5.3 测量的整体理论误差分析58
- 5.4 测量实验中的机械工艺误差分析58-60
- 第六章 全文总结与展望60-62
- 附录62-66
- 参考文献66-69
- 致谢69
【引证文献】
中国硕士学位论文全文数据库 前3条
1 苏东平;基于FPGA的激光衍射测径仪的研究[D];哈尔滨理工大学;2010年
2 孙菲菲;基于线阵CCD的图像式聚合物材料杂质测量仪[D];哈尔滨理工大学;2011年
3 何晓瑞;线径的激光投影成像差动测量方法与系统研究[D];湖北工业大学;2010年
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本文编号:303829
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