摩擦发光探测装置研制

发布时间：2021-08-29 03:49

　　为进一步研究固体材料在机械压力作用下产生的发光现象及机制,自行研制一套摩擦发光探测装置。该装置由机械系统、控制系统和测量系统三部分组成,可实现不同转速、不同载荷、不同摩擦副下的摩擦发光光强和光谱的探测。通过测量不同转速、不同载荷以及不同摩擦副下的摩擦发光实验,发现重复多次测量,实验结果数据稳定且有一定规律性,证明了摩擦发光探测装置的可行性。 

【文章来源】：润滑与密封. 2020,45(02)北大核心CSCD

【文章页数】：4 页

【部分图文】：

摩擦发光探测装置实物图(a)整体结构示意图(b)

力测量系统包括三维力传感器和数据采集卡。操作软件通过和数据采集卡通信实现对摩擦过程中下压力、摩擦力等信号的采集。在实验前对力传感器进行了标定，真实压力与三维力传感器输出信号之间的关系如图2所示。可以看出，力测量有很好的线性和稳定性。光测量系统由Andor光谱仪、光电倍增管(PMT)、光子计数器、放大器和电子倍增型CCD探测器(EMCCD)组成。光测量系统的光路结构图如图3所示。摩擦过程发出的光通过光纤进入光谱仪，并首先由光学准直镜汇聚成平行光。若需要测量摩擦发光的光强，则控制塔轮选择平面镜将入射的光直接反射到聚焦镜上;若需要测量摩擦发光的光谱，则需要控制塔轮选择衍射光栅，将入射的光色散不同波长的光。最后，由PMT或EMCCD将光信号采集，生成光强曲线或光谱曲线。

光测量系统由Andor光谱仪、光电倍增管(PMT)、光子计数器、放大器和电子倍增型CCD探测器(EMCCD)组成。光测量系统的光路结构图如图3所示。摩擦过程发出的光通过光纤进入光谱仪，并首先由光学准直镜汇聚成平行光。若需要测量摩擦发光的光强，则控制塔轮选择平面镜将入射的光直接反射到聚焦镜上;若需要测量摩擦发光的光谱，则需要控制塔轮选择衍射光栅，将入射的光色散不同波长的光。最后，由PMT或EMCCD将光信号采集，生成光强曲线或光谱曲线。2 实验观测

【参考文献】：
期刊论文
[1]Sm（TTA）3phen的摩擦发光及发光现象与配体性质的关系研究[J]. 邓瑞平,于江波,张洪杰,李哲峰,周亮,彭泽平,郭智勇.  高等学校化学学报. 2007(06)
[2]ZnS:Mn摩擦发光特性的研究[J]. 梅增霞,张希清,姚志刚,韩建民,李家泽.  光谱学与光谱分析. 2001(06)



本文编号：3369844