光反馈光腔衰荡技术理论与应用研究
发布时间：2021-09-05 12:01
目前,反射率高于99.9%的高反光学元件广泛应用于激光陀螺、引力波探测、激光核聚变等激光光学系统,其高反光学元件的反射率直接关系到这些激光光学系统的性能。因此,高反光学元件反射率的准确检测对其产品质量控制和性能提升尤为重要。而光腔衰荡技术是目前唯一能够测量超高反射率的方法,具有不受光源波动影响、测量精度高、绝对测量等优点。而光反馈光腔衰荡技术,其装置更为简单、成本更为低廉、测量精度足够高。因此,本文主要针对光反馈光腔衰荡技术的理论与应用展开研究,主要包括以下几个方面:（1）从多光束干涉理论出发,通过对直腔和折叠腔的透射光强函数进行分析得到其光腔的衰荡输出信号,从稳定性条件、衰荡时间拟合算法、探测系统带宽等方面对高反射率测量仪器进行了优化分析,并分析了测试腔与初始腔腔长不一致和探测系统耦合方式对超高反射率测量的影响。（2）开展了多层介质膜的偏振反射率测量研究,对不同入射偏振方向的腔平均反射率进行了仿真分析和实验测量,并提出了一种无需偏振光学元件同时测量高反光学元件的偏振反射率的测量方法,分别在633nm和1064nm处搭建了两套偏振反射率同时测量装置,与传统测量方法进行对比测量,测量误差...
【文章来源】：电子科技大学四川省 211工程院校 985工程院校 教育部直属院校
【文章页数】：131 页
【学位级别】：博士
【部分图文】：
单次反射相对测量和直接测量的测试系统示意图
3了既提高测量精度又容易进行操作，2001 年国际标准 ISO15368[11-3 双光路分光光度计方法，采用调制板 CM 周期性调制参考光束T，使两束光交替进入探测器 DU，消除了光源和环境波动的影响，达到 0.1%左右。该方法由于测量精度高，装置简单，易操作等优各种商用反射率测量仪器如 Lambda900(美国 PE 公司)、UV365(日Cary5000(美国 Varian 公司)、U4100 和 U-3501(日本 Hitachi 公司
图 1-3 ISO15368 分光光度法反射率测量示意图[12]多次反射法次反射反射率测量方法中，二次反射是最常见用的。一种基于 方法如图 1-4 所示，先按如图 1-4(a)所示测量经过反射镜 M1，参 M2 的出射光能流 Ea，然后插入待测样品 S，按图 1-4(b)所示将180 度，测量经过反射镜 M1，参考样品 R，待测样品 S 和反射镜流 Eb，由于出射光经过待测样品 S 两次，则待测样品 S 的/b a E，显然反射两次比反射一次测量精度提高一倍。同样可以采扇形挡板使参考光束和测量光束交替进入探测器，来提高反射
【参考文献】：
期刊论文
[1]阈值电路特性对腔衰荡光谱测量影响的实验研究[J]. 赵刚,李志新,马维光,付小芳,谭巍,董磊,张雷,尹王保,贾锁堂. 光谱学与光谱分析. 2014(08)
[2]光学元件失调对光腔衰荡高反射率测量影响的理论分析[J]. 曲哲超,李斌成,韩艳玲. 光子学报. 2011(09)
[3]球形粒子Mie散射特性分析[J]. 张伟,路远,杜石明,王宝荣. 光学技术. 2010(06)
[4]光腔衰荡技术测中红外腔镜反射率的实验研究[J]. 高丽峰,李斌成,熊胜明. 中国激光. 2010(04)
[5]光腔衰荡高反射率测量技术综述[J]. 李斌成,龚元. 激光与光电子学进展. 2010(02)
[6]6590 cm-1附近N2O分子的连续波腔衰荡光谱测量[J]. 谭中奇,龙兴武. 光学学报. 2009(04)
[7]高灵敏度调谐式连续波腔衰荡光谱技术[J]. 谭中奇,龙兴武,黄云. 光学学报. 2009(03)
[8]COIL腔镜薄膜参数实验研究[J]. 赵伟力,房本杰,王锋,金玉奇,桑凤亭. 强激光与粒子束. 2008(12)
[9]数据拟合点的截取对光腔衰荡法测量反射率的影响[J]. 王利,程鑫彬,王占山,唐骐,范滨. 红外与激光工程. 2008(05)
[10]腔衰荡光谱技术测量O2禁戒跃迁绝对吸收截面[J]. 王春梅,李炯,龚天林,陈扬骎,杨晓华. 光学学报. 2007(11)
博士论文
[1]高反射率精密测量技术研究[D]. 何星.中国科学院研究生院(光电技术研究所) 2016
[2]旋转式激光陀螺寻北仪的研究[D]. 黄宗升.国防科学技术大学 2007
[3]极高反射率测量仪[D]. 梁永辉.中国人民解放军国防科学技术大学 2000
硕士论文
[1]偏振光反馈光腔衰荡高反射率测量技术研究[D]. 祖鸿宇.中国科学院研究生院（光电技术研究所） 2014
本文编号：3385311
【文章来源】：电子科技大学四川省 211工程院校 985工程院校 教育部直属院校
【文章页数】：131 页
【学位级别】：博士
【部分图文】：
单次反射相对测量和直接测量的测试系统示意图
3了既提高测量精度又容易进行操作，2001 年国际标准 ISO15368[11-3 双光路分光光度计方法，采用调制板 CM 周期性调制参考光束T，使两束光交替进入探测器 DU，消除了光源和环境波动的影响，达到 0.1%左右。该方法由于测量精度高，装置简单，易操作等优各种商用反射率测量仪器如 Lambda900(美国 PE 公司)、UV365(日Cary5000(美国 Varian 公司)、U4100 和 U-3501(日本 Hitachi 公司
图 1-3 ISO15368 分光光度法反射率测量示意图[12]多次反射法次反射反射率测量方法中，二次反射是最常见用的。一种基于 方法如图 1-4 所示，先按如图 1-4(a)所示测量经过反射镜 M1，参 M2 的出射光能流 Ea，然后插入待测样品 S，按图 1-4(b)所示将180 度，测量经过反射镜 M1，参考样品 R，待测样品 S 和反射镜流 Eb，由于出射光经过待测样品 S 两次，则待测样品 S 的/b a E，显然反射两次比反射一次测量精度提高一倍。同样可以采扇形挡板使参考光束和测量光束交替进入探测器，来提高反射
【参考文献】：
期刊论文
[1]阈值电路特性对腔衰荡光谱测量影响的实验研究[J]. 赵刚,李志新,马维光,付小芳,谭巍,董磊,张雷,尹王保,贾锁堂. 光谱学与光谱分析. 2014(08)
[2]光学元件失调对光腔衰荡高反射率测量影响的理论分析[J]. 曲哲超,李斌成,韩艳玲. 光子学报. 2011(09)
[3]球形粒子Mie散射特性分析[J]. 张伟,路远,杜石明,王宝荣. 光学技术. 2010(06)
[4]光腔衰荡技术测中红外腔镜反射率的实验研究[J]. 高丽峰,李斌成,熊胜明. 中国激光. 2010(04)
[5]光腔衰荡高反射率测量技术综述[J]. 李斌成,龚元. 激光与光电子学进展. 2010(02)
[6]6590 cm-1附近N2O分子的连续波腔衰荡光谱测量[J]. 谭中奇,龙兴武. 光学学报. 2009(04)
[7]高灵敏度调谐式连续波腔衰荡光谱技术[J]. 谭中奇,龙兴武,黄云. 光学学报. 2009(03)
[8]COIL腔镜薄膜参数实验研究[J]. 赵伟力,房本杰,王锋,金玉奇,桑凤亭. 强激光与粒子束. 2008(12)
[9]数据拟合点的截取对光腔衰荡法测量反射率的影响[J]. 王利,程鑫彬,王占山,唐骐,范滨. 红外与激光工程. 2008(05)
[10]腔衰荡光谱技术测量O2禁戒跃迁绝对吸收截面[J]. 王春梅,李炯,龚天林,陈扬骎,杨晓华. 光学学报. 2007(11)
博士论文
[1]高反射率精密测量技术研究[D]. 何星.中国科学院研究生院(光电技术研究所) 2016
[2]旋转式激光陀螺寻北仪的研究[D]. 黄宗升.国防科学技术大学 2007
[3]极高反射率测量仪[D]. 梁永辉.中国人民解放军国防科学技术大学 2000
硕士论文
[1]偏振光反馈光腔衰荡高反射率测量技术研究[D]. 祖鸿宇.中国科学院研究生院（光电技术研究所） 2014
本文编号：3385311
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