柱面反射式消像散Czerny-Turner光谱仪高分辨探测技术研究

发布时间：2021-11-06 21:04

　　传统Czerny-Turner光谱仪系统中,像散是影响光谱仪成像质量并限制其在分析领域中进一步应用的主要因素。针对这一问题,提出了柱面反射式消像散Czerny-Turner光谱仪高分辨探测技术。使用柱面反射镜校正系统像散,能够提高系统像质,在具有良好工艺性的同时,保证宽波段C-T光谱仪的实际分辨力。实验证明,柱面反射式消像散C-T光谱仪的分辨力在400～800nm的探测范围内可以达到0.02 nm。该技术能够提高光谱仪的性能,为高分辨宽波段的光谱仪研制提供可行方法。 

【文章来源】：光学技术. 2020,46(03)北大核心CSCD

【文章页数】：6 页

【文章目录】：
0 引 言
1 光谱仪成像及像散校正原理
2 光学系统的仿真与对比
3 实验及结果
4 结 论


【参考文献】：
期刊论文
[1]Astigmatism-corrected miniature czerny-turner spectrometer with freeform cylindrical lens[J]. 夏果,屈碧香,刘鹏,余飞鸿.  Chinese Optics Letters. 2012(08)
[2]改进型Czerny-Turner成像光谱仪光学系统设计方法[J]. 刘健鹏,唐义,黄刚,张止戈,倪国强.  光学学报. 2012(03)



本文编号：3480523