基于STM32F103的涂镀层测厚仪

发布时间：2021-12-17 21:30

　　文中设计了一种基于STM32F103的涂镀层测厚仪。测厚仪可以实现对金属表面的涂镀层厚度的高精度测量。具体可测量铁一类的磁性材料表面的涂镀层厚度,也可以测量铝一类的非磁性材料表面的涂镀层厚度。测厚仪的探头结合磁感应测厚法和电涡流测厚法,能够把涂镀层厚度的变化通过相应的电路精确转化为频率的变化,然后经过算法拟合和自适应修正将数据进行处理,最后通过液晶屏将测量结果显示出来。测试结果表明该测厚仪精度较高,而且具有成本低、续航长等特点。 

【文章来源】：仪表技术与传感器. 2020,(08)北大核心CSCD

【文章页数】：4 页

【部分图文】：

探头结构示意图

基于STM32F103的涂镀层测厚仪的硬件组成主要包括主控电路模块、电源模块、测厚电路模块和人机交互模块。整体结构框图如图2所示。1.2.1 主控电路模块

测厚电路模块是利用二合一测量探头跟各自的振荡电路产生稳定的振荡信号,通过测试振荡信号频率来间接得到涂镀层厚度。磁感应测厚的振荡电路示意图如图3所示。图3所示的振荡电路工作原理如下:第一级运放通过探头线圈1以及电阻电容组成一个自反馈RLC振荡电路;第二级运放把第一级运放的输出作为输入,经过整形放大之后输出给第三级运放;第三级运放将第二级运放的输出与2个电阻组成的比例电压作比较,进行幅度调制,产生幅值稳定的信号并且返回给第一级运放;整个振荡电路利用三级运放构成一个完整的回路,最终输出一个稳定的振荡信号。

【参考文献】：
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硕士论文
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本文编号：3540979