温度传感器浸没方式对温度计校准结果的影响
发布时间:2021-12-19 03:09
通过对数字温度计中温度传感器的不同浸没方式、试管插入深度进行比对试验,结果表明:采用直接接触热源的校准方法导热速度更快,达到恒温状态所需时间较短;选择玻璃试管校准时,选用的玻璃试管内径应与温度传感器的直径相当,并将温度传感器插入至玻璃试管底部,得到的校准结果更准确。
【文章来源】:上海计量测试. 2020,47(03)
【文章页数】:3 页
【部分图文】:
图1 两种校准方法试验结果的比较
由图2可以看出,1号玻璃试管内径为3.4 mm,与温度传感器直径更接近,降温迅速,且稳定时间最短,为100 s,稳定温度为0.06℃。随着玻璃试管直径的匹配程度越低,降温越缓慢且稳定所需时间越长,2号、3号和4号玻璃试管稳定时间分别为130 s、150 s和180 s,稳定温度分别为0.11℃、0.33℃和0.57℃,更加偏离校准点温度。这是由于玻璃试管内空气与外界空气产生对流,出现了明显漏热现象,因此,应尽量选择与温度传感器直径相当的玻璃试管进行校准。2.3 温度传感器在玻璃试管中不同位置对校准结果的影响
将温度传感器装入玻璃试管中校准时,除了要考虑玻璃试管的内径,还需考虑插入玻璃试管中的位置,即温度传感器在恒温槽中的浸没深度。选择1号玻璃试管,外径为2.1 mm的温度传感器,将其分3次插入玻璃试管中的不同位置进行校准,温度在0℃的比较试验,图3给出了试验过程所需校准点的时间及试验结果。由图3可以看出,在选择了与温度传感器直径相当的玻璃试管后,温度传感器在玻璃试管中的放置位置对校准结果也存在一定的影响。温度传感器插入玻璃试管最底部时温度稳定时间最短,为100 s,稳定温度为0.06℃。温度传感器在其他两处位置的稳定时间分别为120 s、140 s,稳定温度分别为0.14℃、0.33℃。这是由于温度传感器浸没深度不够,增加了导热的热阻,到达校准点时间较长且校准结果偏离校准点较大。因此,在校准数字温度计时应将温度传感器插入至玻璃试管底部。
【参考文献】:
期刊论文
[1]数字式温度计校准方法探讨[J]. 汤磊,胡靖,张哲. 中国计量. 2016(12)
[2]数字温度计校准方法及校准结果处理研究[J]. 夏海雷. 工业计量. 2013(S1)
[3]数字式温度计校准方法探讨[J]. 李振杰. 中国计量. 2011(09)
[4]提高接触式表面温度计校准可靠性的方法[J]. 周登锦,陈子骞,徐标,梁显有. 上海计量测试. 2011(04)
[5]数字温度计校准方法及不确定度评定[J]. 王孔祥. 计量与测试技术. 2007(05)
本文编号:3543656
【文章来源】:上海计量测试. 2020,47(03)
【文章页数】:3 页
【部分图文】:
图1 两种校准方法试验结果的比较
由图2可以看出,1号玻璃试管内径为3.4 mm,与温度传感器直径更接近,降温迅速,且稳定时间最短,为100 s,稳定温度为0.06℃。随着玻璃试管直径的匹配程度越低,降温越缓慢且稳定所需时间越长,2号、3号和4号玻璃试管稳定时间分别为130 s、150 s和180 s,稳定温度分别为0.11℃、0.33℃和0.57℃,更加偏离校准点温度。这是由于玻璃试管内空气与外界空气产生对流,出现了明显漏热现象,因此,应尽量选择与温度传感器直径相当的玻璃试管进行校准。2.3 温度传感器在玻璃试管中不同位置对校准结果的影响
将温度传感器装入玻璃试管中校准时,除了要考虑玻璃试管的内径,还需考虑插入玻璃试管中的位置,即温度传感器在恒温槽中的浸没深度。选择1号玻璃试管,外径为2.1 mm的温度传感器,将其分3次插入玻璃试管中的不同位置进行校准,温度在0℃的比较试验,图3给出了试验过程所需校准点的时间及试验结果。由图3可以看出,在选择了与温度传感器直径相当的玻璃试管后,温度传感器在玻璃试管中的放置位置对校准结果也存在一定的影响。温度传感器插入玻璃试管最底部时温度稳定时间最短,为100 s,稳定温度为0.06℃。温度传感器在其他两处位置的稳定时间分别为120 s、140 s,稳定温度分别为0.14℃、0.33℃。这是由于温度传感器浸没深度不够,增加了导热的热阻,到达校准点时间较长且校准结果偏离校准点较大。因此,在校准数字温度计时应将温度传感器插入至玻璃试管底部。
【参考文献】:
期刊论文
[1]数字式温度计校准方法探讨[J]. 汤磊,胡靖,张哲. 中国计量. 2016(12)
[2]数字温度计校准方法及校准结果处理研究[J]. 夏海雷. 工业计量. 2013(S1)
[3]数字式温度计校准方法探讨[J]. 李振杰. 中国计量. 2011(09)
[4]提高接触式表面温度计校准可靠性的方法[J]. 周登锦,陈子骞,徐标,梁显有. 上海计量测试. 2011(04)
[5]数字温度计校准方法及不确定度评定[J]. 王孔祥. 计量与测试技术. 2007(05)
本文编号:3543656
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