双光子受激发射损耗复合显微成像技术研究

发布时间：2022-07-15 13:47

　　鉴于双光子受激发射损耗（STED）复合显微镜在神经疾病临床诊断及脑科学研究中的重要作用,对双光子STED复合显微成像中多波长选通、多光束合束、关键技术指标等进行了研究,完成了复合显微镜样机系统集成研制和复合成像。该复合显微镜可以对荧光标记的样本进行扫描成像,具备红绿双色荧光扫描成像功能、双光子绿色荧光成像功能和STED超分辨绿色荧光成像功能。测试结果表明,该复合显微镜成像深度达到700μm,分辨率优于60 nm。 

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【文章目录】：
引言
1 复合显微镜成像系统
2 双光子STED复合显微成像技术研究
    2.1 多波长选通
    2.2 多光束合束
    2.3 关键性能指标测定
    2.4 系统成像研究
3 结论


【参考文献】：
期刊论文
[1]基于非线性光学的2PE-STED显微技术的发展与应用[J]. 李奇峰,沙乾坤,王洋,陈达.  纳米技术与精密工程. 2015(02)



本文编号：3662162