X射线头颅侧位CCD线阵探测器与非晶硒平板探测器的比较

发布时间：2022-12-06 05:18

　　针对头颅侧位使用的CCD线阵探测器和非晶硒平板探测器,从参数性能、成像原理、图像质量和使用维护方面对两种类型的探测器进行了比较分析,结果显示CCD线阵探测器分辨率较高,动态范围较大,更容易维护,在成像时间和影像噪声方面的表现较非晶硒探测器逊色。 

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【文章目录】：
1. 关键性能参数对比
2. 成像原理
    2.1 CCD的成像原理
    2.2 非晶硒探测器的成像原理
3. 患者头颅侧位图像对比
4. 使用维护
5.小结


【参考文献】：
期刊论文
[1]X射线线阵探测器的研究与应用[J]. 李俊霖,徐东风.  无损探伤. 2013(05)
[2]非晶硒DR平板探测器的结构原理及维护保养[J]. 薄夫军,张永寿,刘乃智,宋天一.  中国医学装备. 2010(02)

博士论文
[1]CCD型X射线探测器性能研究[D]. 杨彦佶.吉林大学 2014



本文编号：3711138