高精度白光与微光瞄具零位走动量检测技术研究

发布时间：2017-07-29 19:00

  本文关键词：高精度白光与微光瞄具零位走动量检测技术研究

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【摘要】：针对白光瞄具前加设微光镜组而成的组合式瞄具零位高精度检测需求,研究了一种可检测组合式瞄具纯零位变化及微光镜组光轴走动量的光电检测方法。该方法采用CCD相机测量组合式瞄具总的零位变化量,双自准直仪对组合式瞄具装卡产生的误差和微光镜组装卡产生的调整架姿态变化进行定量检测,并从CCD测量值中予以剔除,最终得到组合瞄具的纯零位变化以及微光镜组的光轴走动量。阐述了检测理论模型,并设计了测量实验。研究结果表明:白光瞄具的纯零位走动量测量精度σ值不大于2.16″(0.01 mil);微光镜组的光轴走动量测量精度σ值不大于21.6″(0.1 mil).
【作者单位】： 长春理工大学光电工程学院;
【关键词】： 兵器科学与技术 组合式瞄具 零位变化量 双自准直仪
【分类号】：TH745
【正文快照】： 0引言瞄具是武器装备中不可或缺的装置,其零位走动量(即瞄准基线变化量)是影响武器射击准确度的主要因素,是瞄准镜实验必须要检测的项目之一,也是评价瞄具稳定性的重要指标[1]。本文涉及的微光瞄具是在白光瞄准镜前附加微光镜组组合而成[2],因此需要检测白光瞄具的零位走动量

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本文编号：590588