受激辐射损耗超分辨成像技术研究
发布时间：2017-08-02 13:28
本文关键词：受激辐射损耗超分辨成像技术研究
【摘要】：受激辐射损耗显微成像(STED)是一种超分辨荧光显微成像技术,它能够突破传统光学衍射极限的限制,把远场光学分辨率提高到百纳米以内,被广泛应用于生物医学等领域,是目前光学显微成像领域研究的热点之一。采用了一种基于超连续谱皮秒脉冲白激光光源的STED显微系统,实现超分辨成像。并从精密合束、脉冲延迟和损耗光残留光强几个方面探讨系统优化,从而获得最佳的成像效果。对直径约25 nm荧光微球成像实验的数据表明:该系统成像分辨率可达约60 nm,分辨能力远远高于衍射极限。另外,系统成功实现了对核孔复合物、微管和微丝等一系列生物样品的超分辨成像,共聚焦成像中某些模糊不清的结构在STED成像中清晰可辨。
【作者单位】： 中国科学院苏州生物医学工程技术研究所江苏省医用光学重点实验室;
【关键词】： 荧光显微成像 超分辨 受激辐射损耗
【基金】：国家重大科研装备研制项目(ZDYZ2013-1)
【分类号】：TH742;TP391.41
【正文快照】： 0引言生物医学领域研究往往需要在活体条件下对细胞内的组织进行观测。远场光学成像技术因其具有样品制备简单、对生物样品无损伤、成像速度快等优势,成为观察微小结构的重要技术手段,它伴随着整个学科领域的发展,一直促进着人类对细胞微观世界的认知[1]。但是传统光学显微镜
【相似文献】
中国期刊全文数据库 前9条
1 蔡欢庆;匡翠方;王轶凡;葛剑虹;刘旭;;基于宽场随机荧光漂白的超分辨显微方法[J];中国激光;2013年11期
2 刘帅;叶燃;曹玲玲;;一种可移动超分辨成像系统的制备及其性质研究[J];应用光学;2014年03期
3 郝翔;匡翠方;李e，
本文编号：609561
本文链接：https://www.wllwen.com/kejilunwen/yiqiyibiao/609561.html
