基于硅漂移探测器的X射线粉末衍射仪探测记录系统的研究

发布时间：2017-09-02 19:02

本文关键词：基于硅漂移探测器的X射线粉末衍射仪探测记录系统的研究

【摘要】：研究了提高X射线衍射强度的方法,将硅漂移探测器(SDD)集成在X射线粉末衍射仪的探测记录系统中,发展出一种新的X射线粉末衍射线的高效探测与记录系统,它包括SDD探测器、单道脉冲分析器和计数电路等部分。测试结果表明,探测记录系统能量分辨率高,可以省去石墨单色器,与常规配备石墨单色器+闪烁/正比探测器的衍射仪相比,衍射强度可提高三到四倍。同时,此探测记录系统可排除样品中荧光元素的干扰,且可用于阵列探测器"阵列"效应失效的测试(如极图、In-Plane分析等)。新系统可提升薄膜材料和凝聚态微纳结构分析的水平。
【作者单位】：清华大学材料科学与工程研究院中心实验室;
【关键词】： X射线粉末衍射仪 探测和记录系统 衍射强度 能量分辨率
【分类号】：TH744
【正文快照】： X射线粉末衍射(XRD)仪在材料、地质、物理、化学、真空科学等学科及钢铁、水泥、医药等企业中都有着极为广泛应用,是材料的结构表征和分析方法中,应用最广的仪器之一[1]。它是薄膜材料和凝聚态微纳结构分析中必不可少的仪器之一[2-4]。XRD仪的主要性能指标是角度准确度和衍射

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