扫描探针显微镜用碳纤维探针的电化学腐蚀制备方法

发布时间：2017-09-05 19:01

  本文关键词：扫描探针显微镜用碳纤维探针的电化学腐蚀制备方法

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【摘要】：为了克服传统SPM金属探针的易变形、易磨损、使用寿命短等缺点,利用自主开发的电化学腐蚀控制电路,采用电化学腐蚀法制备了碳纤维探针,并研究了制备工艺条件对碳纤维探针形貌的影响。实验结果表明最佳制备工艺条件为:采用高模量的M55J碳纤维,腐蚀起始电压为4V,参考电压为1V,电解液为4mol/L的NaOH溶液。在此工艺条件下制得了尖端曲率半径约为30nm的碳纤维探针,制备的成功率在50%以上。在室温、大气环境条件下,用上述碳纤维探针对高定向裂解石墨表面进行STM扫图,图像呈现清晰的石墨台阶,说明采用电化学腐蚀法制备的碳纤维探针性能稳定,满足SPM使用的要求。
【作者单位】： 哈尔滨工业大学复合材料与结构研究所;哈尔滨工业大学材料学院;
【关键词】： 材料学 碳纤维探针 电化学腐蚀 扫描探针显微镜
【基金】：高等学校博士学科点专项科研基金资助项目(20122302120034)
【分类号】：TH742
【正文快照】： (1.Center for Composite Materials and Structures,Harbin Institute of Technology,Harbin150080,China;2.School of Materials Science and Engineering,Harbin Institute of Technology,Harbin150001,China)自扫描隧道显微镜(scanning tunneling micro-scope,STM)[1]发明

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