基于EMD-SVM的光学元件中频误差识别

发布时间：2017-09-06 12:31

  本文关键词：基于EMD-SVM的光学元件中频误差识别

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【摘要】：为了提高光学元件中频误差的识别精度,提出一种经验模态分解和支持向量机的光学元件中频误差识别模型(EMD-SVM)。首先采用经验模态分解法对光学元件表面的原始误差信呈进行分解,得到一组固有模态函数;然后采用固有模态函数和残差之和构建特征子集,并采用支持向量机建立光学元件中频误差识别模型;最后对模型性能进行了验证性测试。实验结果表明,EMD-SVM可以准确识别分布于光学元件表面的中频误差,提高了中频误差辨识的精度,可以满足光学元件质量检测的识别精度要求。
【作者单位】： 成都工业学院;
【关键词】： 光学元件 中频误差识别 经验模态分解 支持向量机
【基金】：四川省教育科学十二五规划重点课题(2015A047)
【分类号】：TH74
【正文快照】： 随着科学技术的发展,精密光学元件在航空、国防、民用等领域取得不错的应用,同时人们对精密光学元件表面质量要求日益提高[1,2]。中频误差易导致光学元件的丝状破坏,使表面质量大幅度下降,因此对光学元件中频误差进行建模与识别,提高光学元件质量成为当前有待解决的一个重大课

【参考文献】

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本文编号：803144