用于多传感器坐标测量机探测误差评价的薄环规标准器

发布时间：2017-09-11 08:41

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【摘要】：设计了一种薄环规标准器,用于配有光学影像测头和接触式测头的多传感器坐标测量机的探测误差评价。该标准器兼有环规和二维平面标准圆的特征,孔的有效部分厚度为0.1 mm,圆度为0.5μm,可以满足大多数坐标测量机的校准需求,避免了普通标准器如标准球、环规对影像测头测量成像的影响。该标准器同时适用于接触式测头测量,锥孔结构保证了标准器的稳定性,用于接触式测量时,不会引起变形。利用设计的薄环规标准器实现了配有光学影像测头和接触式测头组合测量系统的探测误差评价,结果表明该标准器有效解决了上述组合系统探测误差的校准问题。参照ISO10360-9标准,给出了多传感器组合测量系统的探测误差、尺寸测量误差以及位置误差,并利用坐标变换方法修正了位置误差,优化了系统参数。
【作者单位】： 中国计量科学研究院;
【关键词】： 多传感器坐标测量机 影像传感器 接触式传感器 薄环规标准器 测量不确定度
【基金】：中国计量科学研究院基本科研业务费专项资金资助项目(No.24-YZC1401)
【分类号】：TH721
【正文快照】： 随着航天工业、汽车工业、医疗器械等领域的飞速发展,大量产品使用了复杂零件,这些零件具有多尺度特征尺寸和测量难度大的特点,其精度直接影响产品的质量及使用寿命。任何单一传感器都不能完成此类零件的全部特征测量。在几何量计量领域,多传感器坐标测量技术融合了高精度的接

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本文编号：829742