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MEMS扫描镜温度可靠性测试

发布时间:2017-09-16 07:14

  本文关键词:MEMS扫描镜温度可靠性测试


  更多相关文章: MEMS扫描镜 可靠性 高低温存储 温度冲击


【摘要】:温度是MEMS扫描镜的一个重要失效因素。研究温度对MEMS扫描镜振幅的影响,再通过温度冲击试验和高低温存储试验测试温度对MEMS扫描镜可靠性的影响,分析扫描镜在试验中是否失效和失效的原因。试验结果表明:高温对MEMS扫描镜外框架和镜面振幅无影响,低温对MEMS扫描镜外框架振幅影响较大,增幅达12.3%,对镜面振幅无影响;低温存储由于水汽凝结会导致MEMS扫描镜失效,高温存储对MEMS扫描镜可靠性无影响。
【作者单位】: 西北工业大学空天微纳系统教育部重点实验室;西北工业大学陕西省微/纳米系统重点实验室;西北工业大学深圳研究院;
【关键词】MEMS扫描镜 可靠性 高低温存储 温度冲击
【基金】:国家自然科学基金资助项目(51375399,51375400) 西北工业大学基础研究基金资助项目(JCY20130119) 深圳市财政委员会2012年第四批市新一代信息技术产业发展专项资金基础研究计划项目(JCYJ20120614154203639)
【分类号】:TH811
【正文快照】: 0引言 都应用在航空领域、汽车电子行业以及其他工业领域。诸微机电系统(micro-electro-mechanical system,MEMS)是 多其它试验表明,温度因素对电子产品的可靠性有很大影集执行器和传感器等微型装置、微型机构、微尺度驱动和控 响12]。振幅是扫描镜的最重要性能参数,本文首先

【参考文献】

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本文编号:861616

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