电感耦合等离子质谱仪取样锥后分析离子空间传递行为的探讨

发布时间：2017-09-18 01:07

  本文关键词：电感耦合等离子质谱仪取样锥后分析离子空间传递行为的探讨

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【摘要】：为更好的理解困扰电感耦合等离子质谱仪(ICP-MS)分析灵敏度提高的基质干扰问题,利用激光诱导荧光技术,考察了钡离子和钙离子在ICP-MS取样锥后的质量控制传递行为。通过比较分析离子在取样锥孔口及后端的径向分布,探讨了ICP功率、雾化气流速及基质干扰对取样锥后分析离子空间分布的影响。结果表明:取样锥孔口钙离子与钡离子分布类似,但取样锥后扩散状况与其相对原子质量有关,相对原子质量小的元素径向扩散更快,因此仪器检测灵敏度较低;雾化气流速越大,分析离子的传递效率越低,因此更高的进样速率在ICP-MS应用中不一定对应更高的检测灵敏度;分析离子径向分布及数量也受基质组分影响,基质干扰降低了取样锥后中心轴线上的分析离子数量,使其径向分布变得更扁平,通过截取锥的概率更低,最终使得分析离子的信号降低。
【作者单位】： 潍坊学院化学化工与环境工程学院;环境保护部标准样品研究所;
【关键词】： 电感耦合等离子体质谱仪 取样锥 质量控制传递 功率 雾化气流速 基质干扰
【基金】：2012年度国家环境保护标准制修订项目(2012-60)
【分类号】：TH843;O657.63
【正文快照】： 高纯样品在高科技领域,特别是环境、冶金、材料等方面应用不断发展,对痕量杂质金属含量的分析要求也越来越高[1]。电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)是检测复杂样品体系中痕量和超痕量元素的一种分析技术,具有检出限低、精密度好、线性范围宽及多元素同时测定等特性,在痕量元素

【参考文献】

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【共引文献】

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1 谢新苗;;电感耦合等离子体质谱法测定高纯铁中杂质元素[J];一重技术;2013年03期

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【相似文献】

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本文编号：872455