高精度实时主动轴向防漂移系统研究

发布时间：2017-09-26 12:24

  本文关键词：高精度实时主动轴向防漂移系统研究

  更多相关文章： 纳米分辨 四象限探测器 轴向防漂移

【摘要】：基于单分子定位的荧光纳米分辨显微成像中,系统漂移会使得单分子定位出现额外偏差,从而使重构图像的分辨率降低,造成图像模糊.因此,对系统漂移量的控制至关重要.近年来,防漂移的方法层出不穷.本文针对其中一种利用光学测量原理和引入负反馈的防漂移方法做了系统的研究,分析了其原理和实现过程,对整个系统进行了误差分析,通过实验标定了整个防漂移系统的精度.该系统可以主动实时地校正漂移量,实现了显微镜轴向9.93 nm的防漂移精度.与现有商用的显微镜自带的防漂移装置相比,防漂移精度提高了一个量级.
【作者单位】： 中国科学院西安光学精密机械研究所 超快诊断技术中国科学院重点实验室;深圳大学光电工程学院 光电子器件与系统(教育部广东省)重点实验室;深圳大学光电工程学院光电子器件与系统(教育部广东省)重点实验室;清华大学精密测试技术及仪器国家重点实验室;
【关键词】： 纳米分辨 四象限探测器 轴向防漂移
【正文快照】： 1引言医学和生命科学的发展对显微成像技术的要求越来越高,要想观察到细胞内更精细的结构和细胞内分子的活动,纳米量级的空间分辨率是前提条件,其次还要有足够大的成像深度.因此,出现了很多三维纳米分辨显微成像方法[1-3],其中3D-STORM(three-dimensional stochastic opticalr

【相似文献】

中国重要会议论文全文数据库 前2条

1 朱才朝;王家序;唐倩;;新型平行动轴少齿差环式减速机[A];2005年中国机械工程学会年会论文集[C];2005年

2 金有显;;板料卷曲时受力分析及计算[A];塑性加工技术文集[C];1992年

，

本文编号：923492