全偏振高光谱干涉成像技术的研究

发布时间：2017-10-01 10:31

  本文关键词：全偏振高光谱干涉成像技术的研究

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【摘要】：针对现有全偏振测量与高光谱成像技术难以同步的核心问题,提出了一种新型双光路全偏振高光谱测量结构,利用基于电光效应的偏振调制技术与干涉成像技术,将目标光波的偏振信息、光谱信息和空间图像信息进行有效结合,实现了高光谱与全偏振成像的同步测量,极大丰富了目标探测能力和探测信息量。同时,利用计算机软件得到仿真结果验证了方法的正确性,并对可能产生的误差进行了分析。最后给出了部分实验结果和数据分析进一步验证其可行性。该研究对许多光学技术遥感领域,比如资源普查、环境检测、军事侦察等,具有重要意义。
【作者单位】： 浙江大学信息与电子工程学系;
【关键词】： 全偏振 高光谱 双光路 偏振调制 干涉成像
【基金】：国家自然科学基金项目(No.61178065)资助
【分类号】：TH744.3
【正文快照】： 1引言干涉光谱成像技术是干涉光谱学与成像技术的有机结合,不但能记录下目标存在格局的二维空间信息,还能获取目标的干涉条纹,复原出目标成分的光谱信息[1-3]。然而,光波不仅具有强度信息,还具有另一重要特性,即偏振相位特性,随着偏振测量技术的不断发展[4-7],干涉光谱成像与

【参考文献】

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1 张淳民,杨建峰,原新晶,王炜;偏振干涉成像光谱技术研究进展[J];光电子·激光;2000年04期

2 景娟娟;相里斌;吕群波;黄e，

本文编号：952998