ANSYS在CCD器件温度场仿真中的应用

发布时间：2017-10-01 16:15

  本文关键词：ANSYS在CCD器件温度场仿真中的应用

  更多相关文章： 光学元件 CCD器件 脉冲激光 温度场 仿真

【摘要】：根据CCD器件的特点及实际工作环境,建立其在脉冲激光辐射下温度场的仿真数学模型。利用ANSYS软件APDL语言实现CCD器件参数化建模的全过程,完成CCD器件温度场的数值模拟,得到不同时间段脉冲激光辐射下的温度场分布和温升曲线。
【作者单位】： 长春理工大学;
【关键词】： 光学元件 CCD器件 脉冲激光 温度场 仿真
【分类号】：TH74
【正文快照】： 1引言在激光辐照下,光学元件CCD器件各层材料对热量的吸收,导致光学元件各层材料之间热量的传导和扩散,再加上四周空气对流的作用以及光学元件自发的热辐射,将会在光学元件各层材料内形成随时间和空间分布的温度场[1]。为了减少光学元件的吸收损耗,制备出高质量的光学元件,提

【相似文献】

中国期刊全文数据库 前10条

1 Я.Т.Загорский;邱百存;邱慧珠;;脉冲激光辐射能量标准测量装置[J];国外计量;1985年01期

2 雷勋祖;汪亚东;苏红森;;智能脉冲激光治疗仪的研制[J];医疗卫生装备;2006年07期

3 陈文周;林文青;李金贤;张洪林;;一种直读式脉冲激光能量指示器[J];计量技术;1985年04期

4 施柏煊 ,NＳ，

本文编号：954418