中红外平面光栅光谱仪系统杂散光分析

发布时间：2017-10-01 23:17

  本文关键词：中红外平面光栅光谱仪系统杂散光分析

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【摘要】：为了抑制杂散光对中红外平面光栅光谱仪系统成像质量的影响,首先探讨了系统杂散光的来源,设计了遮光罩、挡光环和里奥光阑;然后针对用挡光板消除光栅衍射杂散光能力有限的问题,提出利用百叶挡光板和杂散光收集器组合来抑制杂散光的影响,并结合三维建模软件Solidworks和杂散光分析软件Tracrpro对系统进行了建模、分析和对比;最后针对某一型号红外热电堆阵列探测器并运用黑体辐射理论对其进行计算和分析,最终结果表明:光谱仪系统地气杂光抑制水平PST可以达到10-11,内部杂散辐射抑制能力有效发射率为1.3%,满足中红外平面光栅光谱仪系统杂散辐射的抑制要求。
【作者单位】： 中国科学院安徽光学精密机械研究所;中国科学院大学;
【关键词】： 杂散光 中红外光谱仪 百叶挡光板 杂光收集器 黑体辐射理论
【基金】：国家自然科学基金(41175037)
【分类号】：TN219;TH744.1
【正文快照】： 0引言杂散光是指光学系统中到达像面的一种有害非目标光束,当影响较大时会淹没目标微弱光信号,甚至导致整个系统失效[1]。中红外平面光栅光谱仪系统利用目标和背景之间的温差形成的红外辐射而进行被动探测,具有目标识别能力强、应用范围广的特点[2],但是在系统工作时,视场外和

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本文编号：956234