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半导体封装测试设备自动化系统的设计与实现.pdf 全文

发布时间:2016-10-10 18:39

  本文关键词:半导体封装测试设备自动化系统的设计与实现,由笔耕文化传播整理发布。


半导体封装测试设备自动化系统的设计与实现 半导体封装测试设备自动化系统的设计与实现 摘 要 半导体封装测试行业已经进入了一个快速发展的时期,随着工艺技术地不断完善, 现已步入19 纳米时代,而行业中的摩尔定律预示着:当价格不变时,集成电路上可容 纳的晶体管数目,约每隔18 个月便会增加一倍,性能也将提升一倍,所以如何利用自 动化技术和管理思想并有效地运用于车间管理,从而提高企业竞争力,是制造型企业 目前所面临的紧迫任务。 制造执行系统 (MES ,Manufacturing Execution System )是现代/计算机集成制造 (CIMS,Contemporary/Computer Integrated Manufacturing System )中介于上层企业资 源计划(ERP ,,Enterprise Resource Planning )和底层的设备自动化程序(EAP ,Equipment Automation Program )之间面向工厂车间管理的系统。本论文从车间管理中所存在的问 题出发,设计与实现设备自动化系统 (EAP/RMS )的若干关键技术,具体内容如下: 1 针对工厂车间没有底层工业控制系统而导致的管理缺陷,设计并实现了EAP 与 上层MES 和底层设备之间的相互通讯,从而解决了MES 与设备之间无实时通 讯的缺陷; 2 针对工厂车间对配方 (Recipe ,亦可称程序)手动管理的缺陷,设计并实现了配 方管理系统(RMS ,Recipe Management System ),从而使生产中的每个批次(Lot ) 都经过RMS 系统检验,只有符合规格的Lot 才能被作业; 3 针对设备报警 (Alarm )发生后很难及时管控的缺陷,设计并实现了报警管理系 统来侦测 Alarm ,一旦某一设定的Alarm 违反规则,该设备就会被


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本文编号:136550

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