基于深度强化学习的哈特曼传感器标定优化技术研究
【学位单位】:中国科学院大学(中国科学院光电技术研究所)
【学位级别】:博士
【学位年份】:2019
【中图分类】:TP212;TP391.41
【部分图文】:
波前探测技术夏克哈特曼波前传感器是一种精密的波前探测仪器,广泛应用于各种光学文围绕夏克哈特曼波前传感器在自适应光学系统中的标定优化,开展了的工作。其中波前和波前探测是研究本论题时需要了解的最基本的概念首先围绕这两个概念展开论述。 波前及波前探测技术原理.1 波前针对波前,本小节将从几何光学[1,2]和波动光学[3,4]的角度分别阐述。几何光学中,将光的传播看作矢量光线,最直观的例子就是影子的形成和像现象[5](如图 1.1 所示)。在对这些现象进行分析时,一束光被看作由无向直线组成。
0U u exp( w r) 2w 代表光波的矢向量, 为波长; 表示光程的矢向量的相位[3-5]。根据以上定义,在波动光学理论中,波前代表了前探测技术波前的基本概念后,本小节主要简述了波前探测技术原理匀介质中传播时,波前相位信息可以反映光程的不同。根据测目标表面信息。如图 1.2,在同种均匀介质中,等相位的反射后,波面形成了一定光程差,因此,反射波面包含了目息。
第一章 绪论1.1.2 现有波前探测技术波前探测器按波前探测技术的不同,可分为基于干涉技术的波前探测器、基于斜率测量的夏克哈特曼波前传感器和其他波前探测器。1.1.2.1 基于干涉技术的波前探测器基于干涉技术的波前探测器,通过干涉技术复原被测波前。主要指干涉仪,包括径向剪切干涉仪(图 1.3(a))、四波横向剪切干涉仪(图 1.3(b)),点衍射干涉仪(图 1.3(c))等[6-9]。由于大部分干涉仪面临硬件结构相对复杂、光能利用率较低等限制,在实时波前探测领域中逐渐被其他技术替代。由于这部分不是本文主要内容,在此只做简单的介绍。
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本文编号:2836708
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