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基于FRI的阵列超声信号稀疏采样硬件实现方法研究

发布时间:2021-06-14 06:55
  超声阵列检测技术具有扫查效率高,获取缺陷信息丰富,便于成像等特点而在工业和医学领域得到广泛应用。然而,随着阵列检测技术不断发展,带来的诸如采集数据量大的问题也日趋突出,给信号的传输、采集、存储、以及后处理造成困难。奈奎斯特常规数据采样是基于频率信息的完整性的,这是通过采样信号在时域的稠密性来保证的,因此采集数据量大,再加之超声信号频率较高,检测中产生的海量数据严重制约了超声检测技术的发展。而基于有限新息率(Finite Rate of Innovation,FRI)的稀疏采样理论在近几年得到了广泛的重视,但不管是理论研究,还是物理电路实现方法研究均是针对单路超声信号的,还没有开展对超声传感器阵列FRI稀疏采样的研究,若简单地用单传感器稀疏采样电路叠加来实现阵列信号的稀疏采样,必然导致电路系统过于复杂和庞大。为此,论文构建了基于合成共享采样核的阵列超声FRI稀疏采样构架,从理论上研究了该构架,提出了基于正序规则的阵列脉冲合成方法、基于椭圆低通滤波器的阵列脉冲合成信号采样核实现方法,并设计制作了基于该构架的阵列稀疏采样硬件电路,通过仿真和试验验证了该方法的可行性,试验结果表明,该方法能有效... 

【文章来源】:江苏大学江苏省

【文章页数】:106 页

【学位级别】:硕士

【部分图文】:

基于FRI的阵列超声信号稀疏采样硬件实现方法研究


现有的FRI采样前端电路模块实物图

试块,实物,斜入射


(3.21)计算得到线阵探头斜入射检测时的х 的х ( ) х ( ) 计算得到的х 值,可由式(3.15)和(3.16)确定当前 ,从而确定斜入射检测时各阵元的最小延迟时间时间确定实例射检测声阵列探头及试块样品,对直入射情况下的阵列回波。采用的阵列传感器为汕超公司的 4L16-C10 线阵探标准探伤试块,探头与试块实物如图 3.8 所示,探头所示。

示意图,缺陷位置,示意图,有效检测


表 3. 1 探头与试块样本参数Tab.3.1 Parameters of ultrasonic array sensor and specimen名称 参数声阵列探头探头类型 线阵阵元数 16阵元间距 1 mm近场区 5 mm试块样本材料 碳钢厚度 45 mm纵波声速 5900 m/s横波声速 3230 m/s中参数,设定有效检测区域横向宽度为 9 mm,纵向深度数: Ё ( ) (Ё ) 代入式(3.18)中计算得到当前条件下有效检测区域内任意缺陷 ( ) 下的х 的值,得到的х 的值与缺陷位置的关系如图

【参考文献】:
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本文编号:3229305

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