Tikhonov正则化法反解计算γ多层屏蔽厚度

发布时间：2021-08-13 15:48

　　基于Tikhonov正则化法,以单层、双层以及三层屏蔽的¹⁵²Eu点源为例,对γ多层屏蔽材料厚度进行了反解研究。结果表明:Tikhonov正则化法能够给出比最小二乘法更稳定且可靠的计算结果。相对于线性吸收系数的计算与测量值的偏差,γ特征谱线的选取是影响反解结果的主要因素。 

【文章来源】：核电子学与探测技术. 2020,40(01)北大核心

【文章页数】：5 页

【部分图文】：

图１?１５２Ｅｕ?７谱线在不同材料中的线性吸收系数??

【参考文献】：
期刊论文
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[2]An enhanced differential evolution-based inverse radiation transport model for identification of unknown shielding layer thicknesses with gamma-ray spectrum[J]. Ying Chen,Lian-Ping Zhang,Xue Sai,Meng-Fu Wei,Lun-Qiang Wu,Jian-Min Hu.  Nuclear Science and Techniques. 2017(06)
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本文编号：3340708