EDXRF测定铜钼含量的滤光片优化选择

发布时间：2024-04-13 11:16

　　在使用能量色散X射线荧光光谱仪定量分析钼铜矿中低含量Cu和Mo元素过程中, X光管的原级谱对测量结果影响非常大。为了降低这一影响,采用蒙特卡洛软件模拟了用Ag, Cu和Mo, Ti三种材质的滤片,在不同厚度情况下对原级谱的影响。模拟结果显示, 1 mm Ti滤片测铜钼元素效果优于0.2 mm Ag滤片、 0.02 mm Cu和0.1 mm Mo滤片。根据模拟结果,在实验室用三种滤片对样品进行了实测,谱线图对比显示,用Cu+Mo作滤片测钼元素时,本底计数大于200,用Ag和Ti作滤片测钼元素,几乎没有本底影响。但相同的样品,用Ti作滤片测得钼最高计数为800左右,而用Ag作滤片时测得钼最高计数为300左右。由此可见,用Ti作滤片测钼元素时, X光管原级谱对被测量元素的干扰影响小,其本底低于用银滤片和铜钼滤片。Ti滤片在降低本底影响的同时,钼的计数率最高,说明射线强度损失最少。用Cu+Mo作滤片测铜元素时,铜最高计数为300,用Ag作滤片时铜最高计数为180左右,而用Ti作滤片铜最高计数为500左右。由此可见,在铜元素含量较低时,用Ti作滤片测铜元素,铜的计数率最高,射线强度损失最少。通过...

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【部分图文】：

图1X光管原级谱

在使用X射线管激发样品时,构成待测元素背景的主要来源是X射线原级谱的散射射线。使用钨靶作为靶材,它的原级谱见图1。钨的能量特征峰为8.4和9.67keV,Pb的能量特征峰为12.61keV,待测元素Cu的能量特征峰为8.05和8.9keV,Mo的能量特征峰为17....

图2不同厚度银滤片对比

蒙特卡洛模拟结果如图2所示。Ag作滤片时,厚度采用0.2和0.1mm对比发现,前者对测铜元素效果较好,测量钼元素时,厚度为0.1mm的滤片比0.2mm的滤片本底高。

图3两种厚度铜钼滤片对比

Ag作滤片时,厚度采用0.2和0.1mm对比发现,前者对测铜元素效果较好,测量钼元素时,厚度为0.1mm的滤片比0.2mm的滤片本底高。使用Cu+Mo作滤片时,厚度采用0.02Cu+0.1Mo(mm)和0.01Cu+0.05Mo(mm)对比发现,前者测量....

图4两种厚度钛滤片对比

使用Cu+Mo作滤片时,厚度采用0.02Cu+0.1Mo(mm)和0.01Cu+0.05Mo(mm)对比发现,前者测量铜元素时本底较低,测量钼元素时,两种厚度的滤片本底都很高。使用Ti作滤片时,厚度为1和0.5mm对比发现,0.5mm滤片在测铜元素的本底也....

本文编号：3952955