如何把交流电变直流电_逆变器_半导体整流器件动态寿命试验机及质量分级方法

  本文关键词：半导体整流器，由笔耕文化传播整理发布。

半导体整流器件动态寿命试验机及质量分级方法　 　

申请专利号 CN87104597.4 　

专利申请日 1987.07.01 　

名称 半导体整流器件动态寿命试验机及质量分级方法　 　

公开（公告）号 CN1030301

公开（公告）日 1989.01.11 　

类别 物理

颁证日 　

优先权  

申请（专利权） 石家庄市自动化研究所 　

地址 河北省石家庄市长安东路12号　

发明（设计）人 赵富; 李增锡; 葛淑欣; 霍一平 　

国际申请  

国际公布  

进入国家日期 　

专利代理机构 河北省专利事务所 　

代理人 王苑祥 　

摘要

本发明公开了一种半导体整流器件动态寿命试验机及其寿命估算与质量评价方法。可以更加科学、准确地对器件的连续寿命参数做出有价值的分析。其基本设计思想是在标准工况下建立器件的动态试验装置。在提取ＩＲ参数的监测中得出其寿命估价函数，从而不但能判断其是否通过寿命试验，而且可估算通过器件的寿命。因而它和现有寿命试验相比有更加实用的价值。 　

主权项

一种对半导体整流器件寿命试验和质量评价方法，其特征在于 ：　　ａ．在典型工况下监测其动态反向平均电流＊的值， ｂ．根据所监测到的＊值与典型环境温度下的最高临界值Ｉ ｐｍ相比较的结果来判定其是否通过寿命试验，，　　ｃ．根据 寿命试验终了时的＊值与＊－ｔ关系曲线去估算被测器件的实 际寿命，并以此为标准对被测元器件质量分级排队。 　

  本文关键词：半导体整流器，由笔耕文化传播整理发布。