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基于长记忆过程的中国通胀率与通胀不确定性关系研究

发布时间:2021-08-20 22:43
  高通货膨胀时期,公众对于通货膨胀的预期难以准确形成,带来了通货膨胀不确定性上的影响。本文的研究目的在于实证检验中国通货膨胀率与通货膨胀不确定性之间的关系,研究选取合适的指标度量通货膨胀率与通货膨胀不确定性,再以通行的Granger因果关系检验来判断两个时间序列的影响关系。本文利用中国1990年1月至2008年12月的月度环比CPI数据,通过预处理得到通货膨胀率序列。对该通货膨胀率序列进行过程研究,发现其具有长记忆性,从而以长记忆过程ARFIMA(0, d, 0)对其进行建模,并发现模型拟合后的残差具有波动群集现象。继而,引入GARCH模型对条件异方差进行描述,而以条件异方差作为通货膨胀不确定性的度量,是比较合适和通行的手段。对估计的模型ARFIMA-GARCH,发现通货膨胀率的条件二阶矩也可能存在长记忆性,从而,进一步引入长记忆过程的FIGARCH模型来对通货膨胀不确定性进行描述。其中,研究认为残差项的偏t分布假设,在拟合结果上显示是较好的。以双长记忆过程的模型ARFIMA(0,d,0)- FIGARCH(1, d, 1)对中国通货膨胀率过程建模,得到条件异方差序列作为不确定性的度量。... 

【文章来源】:南京航空航天大学江苏省 211工程院校

【文章页数】:52 页

【学位级别】:硕士

【部分图文】:

基于长记忆过程的中国通胀率与通胀不确定性关系研究


通货膨胀率序列的自相关函数图和一阶差分自相关函数图

残差序列,残差序列,模型拟合,显著性水平


log 808.556likelihood =括号内的数值为对应的待估参数检验统计量的t 值,*表示在 1%显著性水平下具有显著性。这里的d∧值在 1%显著性水平下显著,说明中国通货膨胀率均值过程存在显著的记忆性。对该过程的残差项过程{ }tε 进行描述,由图 3.5,可以观察到残差序列呈现明显的波动群集(Volatility clustering)现象,意味了残差具有着序列相关性。

序列,通货膨胀率,分布特性,模型拟合


图 3.6 通货膨胀率序列 ARFIMA(0, d, 0)模型拟合后的残差项分布特性3.3 通货膨胀不确定性过程建模利用 ARFIMA ( 0, d,0)模型刻画中国通货膨胀率过程后,其拟合后的残差项存在有明显的ARCH 效应,从而应用 GARCH 族模型对其进行研究,注意力则从均值方程转向方差方程,而论文是以条件方差作为通货膨胀不确定性的度量,从而也即意味着进入通货膨胀不确定性的过程研究。3.3.1 ARFIMA-GARCH 模型对通货膨胀率形成过程,以 ARFIMA 模型描述其均值方程,同时以 GARCH 模型描述其方差方程,这就构成了 ARFIMA-GARCH 模型,其形如(3.3.1)。( )( ) ( )( ) ( )2 2 21dt tt t tL L c LL Lπ εσ ω α ε β σΦ = + Θ= + +(3.3.1)其中, Φ ( L)为自回归算子, Θ ( L)为移动平均算子, ( )21 2qqα L = α L + α L + + αL,

【参考文献】:
期刊论文
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本文编号:3354341

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