基于低维材料的宽波段光电探测器研究
【学位授予单位】:苏州大学
【学位级别】:硕士
【学位授予年份】:2018
【分类号】:TB383.1;TN15
【图文】:
于低维材料的宽波段光电探测器研究 第一章 绪着电子和空穴迁移率的提升。当器件沟道尺寸保持不变,迁移率提升导致电子空穴渡越沟道的时间(ttrans)缩短。可以用公式 1-1 表示17: rans= 2 SD(1-1中,L 是器件沟道长度, 是电子和空穴迁移率。如果空穴的迁移率远低于电子迁移率,那么电子渡越器件沟道的时间远远小于空穴。当一个空穴传输到电时,许多电子早已参与回路并循环多次产生光电流,导致了光电导增益的产生
绪论 基于低维材料的宽波段光电探被材料的缺陷或表面处有效的俘获,导致更长的载流子寿命。相比,此时一个电子或空穴渡越沟道到电极端时,更多空穴或电子早已因此产生更大的光电导增益。这种效应在纳米结构材料如量子点,纳料中比较常见,因为低维材料的比表面积相对较大,缺陷态较高,生载流子。基于光栅效应的器件在光照下转移曲线发生水平移动,如在光照条件下,半导体材料吸收光子产生电子空穴对,空穴被价带俘获,在这种情况下,被俘获而聚集的空穴能有效移动材料的费米诱发更多的电子产生。电子密度的增加进一步降低了器件的电阻,多光电流流动。聚集的电荷会形成有效的栅极电场使 ISD-VSD曲线相生水平移动( VG),而 VG的正负代表着被俘获电荷的极性。如图 光栅效应也能导致了负向光电流。
图 1.3(a)光伏效应原理图。(b)光伏效应下器件的 ISD-VSD特性曲线。1.2.4 光热电效应在光热电效应中,光的不均匀照射导致沟道间的半导体存在温度梯度( T)。该温度梯度可以通过塞贝克系数转化为半导体的电压梯度( V),如图 1.4 所示。产生的电压正比于温度,表达式如 1-2 所示19: = × (1-2)其中 S 为塞贝克系数。这个温度梯度可以是照射时激光光斑面积远小于器件沟道尺寸导致的局部加热,也可能是不同区域吸光度不同引起的温度不均。
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本文编号:2779644
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