过渡族金属碳(氮)化物基薄膜的强韧化设计及其摩擦学性能研究
【学位单位】:吉林大学
【学位级别】:博士
【学位年份】:2019
【中图分类】:TB383.2
【部分图文】:
图 1.1 TiN薄膜的直流溅射过程示意图[2]。1 Schematic diagram of the DC-sputtering system for deposition of Ti过溅射法而获得的靶材原子或分子最终在基底上形核、生长而成膜射镀膜。在此过程中,非热平衡状态的逸出粒子首先通过物理吸附,并与其它粒子发生相互作用。粒子到达基底时的能量、粒子与基能以及基底的温度等条件共同决定着粒子在基底表面上的迁移能基底时的能量较低,与基底之间的结合能较大,且存在较低的基底子极易被基底捕获而停留其表面并开始形核。然而,当粒子到达基高,与基底材料之间的结合能力较弱,且基底温度较高时,则溅射面上的迁移能力明显增加而易与其它粒子先后发生碰撞、结合、形粒子自身的表面迁移能力再度增加时,粒子最终将脱离基底的束缚
1.2):岛状生长模式(Volmer-Weber growth mode);层状生长模式(Frank-van derMerwe growth mode);混合生长模式(Stranski-krastanov growth mode)。图1.2 薄膜材料的生长模式示意图:(a)岛状生长,(b)层状生长,(c)岛状与层状混合生长[1]。Fig.1.2 Schematic diagram of growth modes for the films: (a) Island(Volmer-Weber), (b) Layer by Layer (Frank-Van der Merwe), and (c)Stranski-Krastanov growth.岛状生长模式(Volmer-Weber, island)的出现主要由于基底表面上粒子间的结合能远高于粒子与基底材料间的结合能,故而这些粒子先于基底上形成最小稳定基团并以此为形核点沿着三维(3D)方向生长成纳米岛。随着纳米岛的长大以及彼此之间的相互接触最终形成连续的薄膜, 如图1.2a。当薄膜与基底是异质材料时,薄膜一般以这种模式生长。而层状生长模式(Frank-Van der Merwe,Layer byLayer)通常为最小稳定基团在基底材料上形核后沿着二维(2D)方向延展最终成膜的过程,如图 1.2b。层状生长模式的产生主要归因于基底表面上粒子之间的结合能明显低于粒子与基底之间的结合能,且层间作用力随层数的累积而减弱。典型的半导体类、金属氮化物类薄膜材料均按照层状模式而外延生长。混合生长模式(岛状 层状
cos sif………………………………(1.1)fsi cos…………………………………(1.2)其中 f和 s分别是薄膜材料、基底材料的表面能, i是介于薄膜材料与基底材料间的界面能, 为接触角决定着润湿或非润湿的情况[4]。当 s i f时,则 0 ,此时薄膜的生长模式为岛状生长。显然,只有当薄膜的表面能大于基底的表面能时,薄膜才可能按照岛状模式生长。在陶瓷或半导体基底上沉积的金属薄膜通常以岛状模式生长且而易形成金属团簇。而当 s i f时, 0 ,此时薄膜与基底接近完全润湿,薄膜以层状模式生长。对于互为同质材料的基底和薄膜来说( i 0),若想实现层状生长模式则需要薄膜和基底之间的表面能差异很小。混合生长模式是指最初薄膜以 2D层状生长模式为主,当发展到临界厚度时由晶格失配集聚产生的应变能促使其向 3D岛状生长模式转变。
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