基于纳米环状隧道结的器件和n-Si中自旋输运的研究
【学位单位】:中国科学院大学(中国科学院物理研究所)
【学位级别】:博士
【学位年份】:2018
【中图分类】:TB383.1;TN40
【部分图文】:
-[8]和 T. R. McGuire[9],[10]等人,从理论上对 AMR 效应进行AMR 效应主要来源于块体材料内部的自旋轨道耦合在不同而对传导电子的散射不同而造成的。性块材过渡到薄膜水平,1993 年,M.Tondra 等人的工作与块材相比,经分子束外延生长的具有良好织构的 500nm同晶向(如[001],[110],[111])所测量到的 AMR 值各不相0.2%,该体系中的最大 AMR 值出现在[111]晶向,可达 0随着薄膜厚度的增加而升高,当厚度大于 500 nm 时,AMR Rijks 等人[12]随后从理论上加以肯定。层的铁磁薄膜来说,AMR 的比值一般都比较小,室温下低温下不会超过 30%。2007 年,如图 1-2 所示,Piotr Wi n U3As4薄膜中在 100 K 温度下观察到了高达 50%左右的 A验上观察到的最大 AMR 值[13]。
4.2 K 温度下,系统磁电阻随 Fe(001)/Cr(001)超晶格中 Cr 层厚度和双层膜的变化关系,其中磁场和电流沿[110]方向[1]。独有偶,同年,德国 Jülich 研究中心的 Peter. Grünberg 等人[2]研究r/Fe 结构中,当两层铁磁层处于反平行态排列时,层间的反铁磁耦,因而导致系统的磁电阻有较大提升,其比值约为 1.3%,如图 1-铁薄膜的磁电阻仅有 0.12%左右。意到,Grünberg 对磁电阻比值的定义与 Fert 略有差别:该工作中 ) ,而 Fert 工作中, = ( ( = )) ( = ),因 Grünberg 等人的定义方法,后者的 GMR 值甚至达到了 82%,这上通用的描述 GMR 的方法。二人凭借在 GMR 领域开创性的工作7 年的诺贝尔物理学奖,并将基于 GMR 效应的相关器件的研究和高度。
1-4. (a)和(b) Fe/Cr/Fe 异质结分别沿磁化易轴和难轴利用 MOKE 测量的磁滞回线;(d) 分别对应图(a)和(b)的 GMR 值随外加磁场的变化关系曲线[2]。隧穿磁电阻效应和磁性隧道结上一节中我们谈到两个铁磁层直接耦合或被其他非磁金属层隔开,可以GMR 效应,那么我们将中间的非磁金属层,替换成较薄的绝缘层,对电形成势垒,会发生什么呢?早在 1975 年,法国国家应用科学研究中心的lere 就提出,在制备的 Fe/Ge/Co“三明治”异质结中,Fe 和 Co 的磁矩处于反平行态时,其体系的电阻存在着差异,在 4.2K 的低温下,体系的磁为 14%[23]。尽管作者当时没有给出明确的命名,但是这就是磁性隧道结将上述“三明治”结构利用第二章所述的微加工的方法制作成圆形或椭圆等形状的微米、纳米尺度器件,就成了隧道结。而众所周知,本征 Ge 材电性劣于一般半导体,而略优于绝缘体,属于常见的绝缘体范畴,因而
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本文编号:2843383
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