非极性ZnO基单晶薄膜的制备及ZnO/ZnMgO异质结构的性能研究
发布时间:2021-01-26 06:17
基于ZnO的特性(直接带隙半导体,禁带宽度3.37 eV,激子束缚能60 meV),其被认为有望成为新一代的光电器件材料。ZnO的“能带工程”是指通过合金化对其进行能带裁剪,并在此基础上制备高质量的量子阱结构,它是实现ZnO光电应用的重要基础。然而,通常情况下ZnO沿极性c轴方向择优生长,这会使其受到自发极化和诱导极化的影响,由此产生的内建电场将使多量子阱结构的内量子效率降低、发光波长红移,从而对器件性能造成不利影响。为消除上述不利影响,我们的工作重点将致力于非极性a面ZnO基单晶薄膜的制备及其异质结构的性能研究。主要包括高质量、带隙可调的Zn1-xMgxO薄膜的制备,ZnO/Zn1-xMgxO异质结能带带阶的测定,ZnO/Zn1-xMgxO多量子阱光学性能的研究以及GaN缓冲层对ZnO薄膜晶体质量的提升。获得的主要研究成果如下:1.采用射频等离子体辅助分子束外延(P-MBE)技术,通过优化生长参数,在r面蓝宝石上外延得到非极性a面Zn1-xMgxO合金薄膜。(1120)面摇摆曲线半高宽(FWHM)为1300~2000 arc sec, (1011)面FWHM为1600~1900 ar...
【文章来源】:浙江大学浙江省 211工程院校 985工程院校 教育部直属院校
【文章页数】:147 页
【学位级别】:博士
【文章目录】:
摘要
Abstract
目录
第一章 引言
第二章 文献综述
2.1 ZnO的晶体结构
2.2 ZnO的基本形态
2.2.1 ZnO体单晶
2.2.2 ZnO纳米结构
2.2.3 ZnO薄膜
2.3 ZnO的物理特性
2.3.1 ZnO的基本性质
2.3.2 ZnO的光学性质
2.3.3 ZnO的电学性质
2.4 ZnO的能带工程
2.4.1 ZnO的能带结构
2.4.2 ZnO的合金化
1-xMgxO合金"> 2.4.3 Zn1-xMgxO合金
1-xBexO合金"> 2.4.4 Zn1-xBexO合金
1-xCdxO合金"> 2.4.5 Zn1-xCdxO合金
2.5 ZnO基量子阱结构
2.5.1 量子阱的基本概念
2.5.2 量子阱的物理效应
2.5.3 ZnO量子阱的研究及应用
2.6 非极性ZnO薄膜及相关研究进展
2.6.1 非极性ZnO薄膜的研究意义
2.6.2 非极性ZnO薄膜的制备方法
2.6.3 非极性ZnO薄膜的特性及研究进展
1-xMgxO薄膜及ZnO/Zn1-xMgxO量子阱的研究进展"> 2.6.4 非极性Zn1-xMgxO薄膜及ZnO/Zn1-xMgxO量子阱的研究进展
2.7 本文的研究思路
第三章 实验原理、生长工艺及表征手段
3.1 实验设备
3.1.1 MBE的工作原理
3.1.2 MBE的技术优势
3.1.3 MBE的设备构造
3.2 实验原料及生长工艺
3.2.1 实验原料
3.2.2 衬底的选择及清洗
3.2.3 生长工艺
3.3 表征手段
1-xMgxO薄膜的外延生长及性能研究">第四章 非极性a面Zn1-xMgxO薄膜的外延生长及性能研究
1-xMgxO薄膜外延生长参数的优化"> 4.1 非极性a面Zn1-xMgxO薄膜外延生长参数的优化
1-xMgxO薄膜性能的影响"> 4.1.1 生长温度对a面Zn1-xMgxO薄膜性能的影响
1-xMgxO薄膜性能的影响"> 4.1.2 氧气流量对a面Zn1-xMgxO薄膜性能的影响
1-xMgxO薄膜性能的影响"> 4.1.3 缓冲层厚度对a面Zn1-xMgxO薄膜性能的影响
1-xMgxO薄膜的性能研究"> 4.2 不同Mg含量a面Zn1-xMgxO薄膜的性能研究
1-xMgxO薄膜的晶体质量"> 4.2.1 不同Mg组分a面Zn1-xMgxO薄膜的晶体质量
1-xMgxO薄膜的表面形貌"> 4.2.2 不同Mg组分a面Zn1-xMgxO薄膜的表面形貌
1-xMgxO薄膜的光电性能"> 4.2.3 不同Mg组分a面Zn1-xMgxO薄膜的光电性能
4.3 本章小结
1-xMgxO异质结能带带阶的研究">第五章 非极性a面ZnO/Zn1-xMgxO异质结能带带阶的研究
5.1 能带带阶的测试方法
1-xMgxO异质结的制备"> 5.2 a面ZnO/Zn1-xMgxO异质结的制备
xMgxO异质结能带带阶的测定"> 5.3 a面ZnO/ZnlxMgxO异质结能带带阶的测定
5.4 本章小结
1-xMgxO多量子阱性能的研究">第六章 非极性a面ZnO/Zn1-xMgxO多量子阱性能的研究
1-xMgxO多量子阱的制备"> 6.1 a面ZnO/Zn1-xMgxO多量子阱的制备
1-xMgxO多量子阱的激子局域化效应"> 6.2 a面ZnO/Zn1-xMgxO多量子阱的激子局域化效应
1-xMgxO多量子阱光学性能的影响"> 6.3 阱层宽度对a面ZnO/Zn1-xMgxO多量子阱光学性能的影响
1-xMgxO多量子阱光学性能的影响"> 6.4 垒层Mg含量对a面ZnO/Zn1-xMgxO多量子阱光学性能的影响
6.5 本章小结
第七章 GaN缓冲层提高a面ZnO薄膜晶体质量的研究
7.1 GaN缓冲层的制备及表征
7.2 GaN缓冲层工艺对a面ZnO薄膜性能的影响
7.2.1 GaN缓冲层厚度对a面ZnO性能的影响
7.2.2 GaN缓冲层生长温度对a面ZnO性能的影响
7.3 经过优化工艺生长的a面ZnO薄膜
7.4 本章小结
第八章 结论
8.1 全文总结
8.2 主要创新点
8.3 工作展望
参考文献
致谢
个人简历
攻读博士学位期间发表的论文和取得的其他科研成果
【参考文献】:
期刊论文
[1]ZnO单晶生长技术的研究进展[J]. 祝振奇,周建,刘桂珍,任志国. 稀有金属. 2009(01)
本文编号:3000621
【文章来源】:浙江大学浙江省 211工程院校 985工程院校 教育部直属院校
【文章页数】:147 页
【学位级别】:博士
【文章目录】:
摘要
Abstract
目录
第一章 引言
第二章 文献综述
2.1 ZnO的晶体结构
2.2 ZnO的基本形态
2.2.1 ZnO体单晶
2.2.2 ZnO纳米结构
2.2.3 ZnO薄膜
2.3 ZnO的物理特性
2.3.1 ZnO的基本性质
2.3.2 ZnO的光学性质
2.3.3 ZnO的电学性质
2.4 ZnO的能带工程
2.4.1 ZnO的能带结构
2.4.2 ZnO的合金化
1-xMgxO合金"> 2.4.3 Zn1-xMgxO合金
1-xBexO合金"> 2.4.4 Zn1-xBexO合金
1-xCdxO合金"> 2.4.5 Zn1-xCdxO合金
2.5 ZnO基量子阱结构
2.5.1 量子阱的基本概念
2.5.2 量子阱的物理效应
2.5.3 ZnO量子阱的研究及应用
2.6 非极性ZnO薄膜及相关研究进展
2.6.1 非极性ZnO薄膜的研究意义
2.6.2 非极性ZnO薄膜的制备方法
2.6.3 非极性ZnO薄膜的特性及研究进展
1-xMgxO薄膜及ZnO/Zn1-xMgxO量子阱的研究进展"> 2.6.4 非极性Zn1-xMgxO薄膜及ZnO/Zn1-xMgxO量子阱的研究进展
2.7 本文的研究思路
第三章 实验原理、生长工艺及表征手段
3.1 实验设备
3.1.1 MBE的工作原理
3.1.2 MBE的技术优势
3.1.3 MBE的设备构造
3.2 实验原料及生长工艺
3.2.1 实验原料
3.2.2 衬底的选择及清洗
3.2.3 生长工艺
3.3 表征手段
1-xMgxO薄膜的外延生长及性能研究">第四章 非极性a面Zn1-xMgxO薄膜的外延生长及性能研究
1-xMgxO薄膜外延生长参数的优化"> 4.1 非极性a面Zn1-xMgxO薄膜外延生长参数的优化
1-xMgxO薄膜性能的影响"> 4.1.1 生长温度对a面Zn1-xMgxO薄膜性能的影响
1-xMgxO薄膜性能的影响"> 4.1.2 氧气流量对a面Zn1-xMgxO薄膜性能的影响
1-xMgxO薄膜性能的影响"> 4.1.3 缓冲层厚度对a面Zn1-xMgxO薄膜性能的影响
1-xMgxO薄膜的性能研究"> 4.2 不同Mg含量a面Zn1-xMgxO薄膜的性能研究
1-xMgxO薄膜的晶体质量"> 4.2.1 不同Mg组分a面Zn1-xMgxO薄膜的晶体质量
1-xMgxO薄膜的表面形貌"> 4.2.2 不同Mg组分a面Zn1-xMgxO薄膜的表面形貌
1-xMgxO薄膜的光电性能"> 4.2.3 不同Mg组分a面Zn1-xMgxO薄膜的光电性能
4.3 本章小结
1-xMgxO异质结能带带阶的研究">第五章 非极性a面ZnO/Zn1-xMgxO异质结能带带阶的研究
5.1 能带带阶的测试方法
1-xMgxO异质结的制备"> 5.2 a面ZnO/Zn1-xMgxO异质结的制备
xMgxO异质结能带带阶的测定"> 5.3 a面ZnO/ZnlxMgxO异质结能带带阶的测定
5.4 本章小结
1-xMgxO多量子阱性能的研究">第六章 非极性a面ZnO/Zn1-xMgxO多量子阱性能的研究
1-xMgxO多量子阱的制备"> 6.1 a面ZnO/Zn1-xMgxO多量子阱的制备
1-xMgxO多量子阱的激子局域化效应"> 6.2 a面ZnO/Zn1-xMgxO多量子阱的激子局域化效应
1-xMgxO多量子阱光学性能的影响"> 6.3 阱层宽度对a面ZnO/Zn1-xMgxO多量子阱光学性能的影响
1-xMgxO多量子阱光学性能的影响"> 6.4 垒层Mg含量对a面ZnO/Zn1-xMgxO多量子阱光学性能的影响
6.5 本章小结
第七章 GaN缓冲层提高a面ZnO薄膜晶体质量的研究
7.1 GaN缓冲层的制备及表征
7.2 GaN缓冲层工艺对a面ZnO薄膜性能的影响
7.2.1 GaN缓冲层厚度对a面ZnO性能的影响
7.2.2 GaN缓冲层生长温度对a面ZnO性能的影响
7.3 经过优化工艺生长的a面ZnO薄膜
7.4 本章小结
第八章 结论
8.1 全文总结
8.2 主要创新点
8.3 工作展望
参考文献
致谢
个人简历
攻读博士学位期间发表的论文和取得的其他科研成果
【参考文献】:
期刊论文
[1]ZnO单晶生长技术的研究进展[J]. 祝振奇,周建,刘桂珍,任志国. 稀有金属. 2009(01)
本文编号:3000621
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