2021年微电子计量测试技术交流会征文通知

发布时间：2021-07-14 06:59

　　<正>一、会议主题微电子技术是当代技术革命的先导与核心,微电子技术的发展,离不开微电子计量与测试技术的保障。一方面,微电子器件的高速发展及高端测试系统的广泛应用,给微电子器件参数的计量与测试带来了极大的挑战。另一方面,微电子器件国产化是我国国家发展战略,国家集成电路产业迅速发展,是我国高质量发展的重要保障,也带来了国产化器件参数的计量与测试新问题、新挑战。 

【文章来源】：舰船电子工程. 2020,40(08)

【文章页数】：1 页

【文章目录】：
一、会议主题
二、征文范围（包括但不限于以下内容）
三、投稿与出版
四、重要日期
五、组织机构
六、联系方式



本文编号：3283659