继电器类单机加速贮存试验及可靠性评价研究

发布时间：2017-12-10 23:04

  本文关键词：继电器类单机加速贮存试验及可靠性评价研究

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【摘要】：继电器类单机常用于导弹、火箭等国防武器装备系统中,完成系统供配电、逻辑控制、信号转换等功能,而此类单机具有“长期贮存,一次使用”的特点,因此,对其进行贮存可靠性的评价具有重要的实用价值。本文通过研究单机的贮存失效机理,监测单机贮存退化敏感参数,进行单机的加速贮存试验及可靠性评价研究。继电器是组成单机的关键元器件,为了确定单机可靠性评估的敏感参数,针对继电器进行贮存失效机理分析。应用UG、Flux和Adams软件进行继电器有限元仿真建模,模拟继电器应力松弛,得到继电器的参数退化规律,建立单机的Simulink仿真模型,根据继电器的参数变化得到单机的退化敏感参数。针对目前缺乏继电器类单机贮存参数监测有效手段的问题,设计并研制单机的加速贮存敏感参数测量系统。将单机待测点的信号进行调理、采集,设计下位机软件,对信号进行分析处理,获得单机的敏感参数。上位机由VC++语言编写,通过CAN总线与下位机进行通讯,发送控制命令并接收参数测量结果。为了提高试验效率并监测到足够的原始数据,设计单机的加速贮存试验方案。通过研究单机的加速贮存试验程序,不同类型试验的适用性及单机的实际贮存应力剖面,分析并确定加速试验的试验类型、应力类型、应力水平、样本容量、监测参数及测试间隔并按照方案开展单机的加速贮存。针对继电器类单机小子样、高可靠的特点,研究基于Wiener过程的单机可靠性评估方法。根据Wiener过程模型原理,结合单机的退化参数,对单机进行可靠性建模。根据贝叶斯理论,结合继电器和单机的退化数据,使用马尔科夫链蒙特卡洛(MCMC)方法并借助Winbugs软件进行可靠性模型的参数估计,利用估计结果得到单机的加速贮存可靠度曲线,完成单机的贮存可靠性评价。
【学位授予单位】：哈尔滨工业大学
【学位级别】：硕士
【学位授予年份】：2016
【分类号】：TM58

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