射频继电器温升测试实验研究

发布时间：2017-12-14 16:15

  本文关键词：射频继电器温升测试实验研究

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【摘要】：射频继电器广泛应用于通信行业,担负着控制、调节、保护等重要作用。由于现代通信系统的迅速发展,所传输的信号频率、功率不断升高,射频继电器的小型化、轻型化设计使其体积缩小,散热面积也相应减小,导致射频继电器工作过程中产生的发热量增加,引起内部各元件温度升高,造成射频继电器失效。本文对射频继电器的热学性能进行了理论计算及仿真计算,研究射频继电器在不同的高频信号下及不同工作环境温度下,能正常地发挥功能。因此对射频继电器进行热分析有重要的理论与实际意义。首先,本文对射频继电器工作原理进行分析,研究其内部的主要发热来源,根据传热学原理,研究了射频继电器主要的传热方式,以及稳态传热的特征条件,并用UG对射频继电器进行实体模型。其次,本文建立了基于ANSYS Workbench电磁-热多物理场的有限元仿真模型,考虑了对流、辐射对内部热场的影响,确定了热场边界条件和生热载荷的施加方法,计算了在九种不同高频信号下,射频继电器正常工作时的稳态温度场,并仿真了不同环境温度下,射频继电器的温度场。最后,搭建了射频继电器温度测试系统。在测试系统中,使用T型热电偶作为温度传感器测量了射频继电器几个关键点的温度值,测量射频继电器在不同高频信号下工作时的实际温度,与仿真温度值进行对比,以及不同环境温度下外壳仿真温度值进行对比分析,结果表明,射频继电器的温度实测值与仿真值具有较好的一致性。
【学位授予单位】：哈尔滨工业大学
【学位级别】：硕士
【学位授予年份】：2016
【分类号】：TM58
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本文编号：1288539