复合绝缘子微波无损检测方法的关键因素研究

发布时间：2018-02-15 15:11

本文关键词： 复合绝缘子无损检测微波缺陷 CST仿真护套厚度　出处：《高电压技术》2017年01期 　论文类型：期刊论文

【摘要】：为了减少复合绝缘子缺陷的故障隐患,研究使用微波反射法对复合绝缘子内部缺陷进行检测的方法。该方法利用微波在绝缘子内部各层交界面的反射特征来进行缺陷检测。采用波阻抗模型进行计算,从理论上验证了微波检测方法的可行性;采用有限积分法对不同厚度的硅橡胶环氧树脂组合样品进行建模仿真,与实验结果对比,得到了硅橡胶厚度与微波反射信号强度的对应关系,即幅度衰减的周期性变化规律;采用平板样品进行实验,研究了缺陷尺寸与检测精度之间的关系,实验中最小可以检测到平板样品内0.3 mm深、4 mm宽的缺陷;提出使用读数偏移量相对值来判断缺陷的方法,使得本微波检测法可以适用于不同型号的绝缘子。理论和实验结果表明,采用微波反射法对复合绝缘子缺陷进行检测具有良好的可行性。
[Abstract]:In order to reduce the hidden trouble of composite insulator defect, The method of detecting the internal defects of composite insulator by microwave reflection method is studied. The method uses the reflection characteristics of the interface of each layer inside the insulator to detect the defect. The wave impedance model is used to calculate the defect. The feasibility of microwave detection method is proved theoretically, and the modeling and simulation of silicone rubber epoxy resin composite samples with different thickness by finite integral method are compared with the experimental results. The relationship between the thickness of silicone rubber and the intensity of microwave reflection signal, that is, the periodic variation of amplitude attenuation, is obtained, and the relationship between defect size and detection accuracy is studied by using flat plate sample. In the experiment, the defect of 0.3 mm deep and 4 mm wide in the plate sample can be detected, and the method of using the relative value of the reading offset to judge the defect is put forward. The theoretical and experimental results show that it is feasible to detect the defects of composite insulators by microwave reflection method.
【作者单位】：清华大学深圳研究生院;
【基金】：国家自然科学基金(51377093)~~
【分类号】：TM216

【参考文献】

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【共引文献】

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