老化实验条件下的IGBT寿命预测模型

发布时间：2018-03-01 11:47

本文关键词： 寿命模型功率循环 Weibull分布 Arrhenius广延指数模型 IGBT　出处：《电工技术学报》2016年24期 　论文类型：期刊论文

【摘要】：以器件功率循环为基础,在疲劳损伤理论基础上建立功率器件寿命模型,以提高变流器的运行可靠性,为功率变流器的检修维护提供理论基础。给出了器件寿命预测模型的使用价值和意义,通过分析功率器件失效机理,设计了功率循环实验平台和老化实验方案,阐述了老化实验原理并给出了老化参数提取方法。利用Weibull分布建立了器件的一维寿命模型并分析了该模型的优缺点,提出了改进的器件三维寿命模型,通过对比、分析证明了该模型的准确性,得到的Arrhenius广延指数模型更能体现器件寿命分布。
[Abstract]:On the basis of device power cycle and fatigue damage theory, the life model of power device is established to improve the reliability of converter. This paper provides a theoretical basis for the maintenance and repair of power converters. The use value and significance of the life prediction model of power converters are given. By analyzing the failure mechanism of power devices, a power cycle experimental platform and an aging experimental scheme are designed. This paper expounds the principle of aging experiment and gives the method of extracting aging parameters. The one-dimensional lifetime model of the device is established by using Weibull distribution, the advantages and disadvantages of the model are analyzed, and the improved three-dimensional lifetime model of the device is put forward. The accuracy of the model is proved, and the Arrhenius extended exponent model can better reflect the lifetime distribution of the device.
【作者单位】：输配电装备及系统安全与新技术国家重点实验室(重庆大学);华南理工大学电力学院;
【基金】：国家自然科学基金(51477019) 国家“111”计划(B08036) 中央高校基本科研业务费(CDJZR12150074) 国家重点基础研究发展计划(973计划)(2012CB25200)资助项目
【分类号】：TM46

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