当前位置:主页 > 科技论文 > 电气论文 >

石英晶体谐振频率测试理论研究及系统设计

发布时间:2018-05-10 06:53

  本文选题:π网络 + 谐振频率 ; 参考:《核电子学与探测技术》2017年03期


【摘要】:负载测试状态的晶体元件谐振参数测试精度受测试网络参数影响较大。本项目基于π网络零相位法,在测试系统设计中引入补偿网络,减小π网络以及测试插座的杂散阻抗对测量结果的影响。同时,在软件设计方面,对测试系统进行标定,以减小系统误差。测量结果表明,随晶体的标称频率的增加,其负载谐振频率的相对方均差呈逐渐增大趋势。与目前国际上较先进的250C系统测量结果比较,最大测量偏差小于4×10~(-6)。但是,当晶体标称频率较大(100 MHz)时,系统重复性测量精度较差,最大偏差达10×10~(-6)。
[Abstract]:The measurement accuracy of resonant parameters of crystal elements in load test state is greatly affected by the network parameters. Based on the zero-phase method of 蟺 network, compensation network is introduced in the design of test system to reduce the influence of stray impedance of 蟺 network and test socket on the measurement results. At the same time, in software design, the test system is calibrated to reduce the system error. The results show that the relative mean square difference of the resonant frequency increases with the increase of the nominal frequency of the crystal. Compared with the results of 250C system, the maximum measurement deviation is less than 4 脳 10 ~ (-1) ~ (-6) ~ (-1). However, when the nominal frequency of the crystal is larger than 100 MHz, the repeatability of the system is poor, and the maximum deviation is 10 脳 10 ~ (-6) ~ (-1).
【作者单位】: 湖北工业大学理学院;湖北工业大学工程技术学院;
【基金】:国家自然科学基金(61475044)项目资助
【分类号】:TM935

【相似文献】

相关期刊论文 前10条

1 陈界东;;晶振中石英晶体的培养[J];硅谷;2011年22期

2 ;代替石英晶体的新材料[J];电子技术;1973年01期

3 李t,

本文编号:1868272


资料下载
论文发表

本文链接:https://www.wllwen.com/kejilunwen/dianlidianqilunwen/1868272.html


Copyright(c)文论论文网All Rights Reserved | 网站地图 |

版权申明:资料由用户3a130***提供,本站仅收录摘要或目录,作者需要删除请E-mail邮箱bigeng88@qq.com