Atom-RQEA在短时闪变严重度计算中的应用

发布时间：2019-04-17 08:13

【摘要】：短时闪变严重度P_(st)是衡量电能质量的一个重要指标,为提高P_(st)的计算精度,提出了基于原子稀疏分解和实数编码量子进化算法(Atom-RQEA)相结合的短时闪变严重度计算方法。其核心是根据电压波动与闪变信号的特点构造了原子库,由实数编码量子进化算法优化原子特征参数,自适应选择最佳匹配原子重构电压波动信号,进而计算短时闪变严重度P_(st)。仿真结果表明:基于Atom-RQEA方法,能够提高短时闪变严重度P_(st)计算精度,验证了提出方法的有效性和适用性。
[Abstract]:Short-time flicker severity P _ (st) is an important index to measure power quality. In order to improve the calculation precision of P _ (st), A short-time flicker severity calculation method based on the combination of atomic sparse decomposition and real coded quantum evolutionary algorithm (Atom-RQEA) is proposed. The core is to construct the atomic database according to the characteristics of voltage fluctuation and flicker signal. The real coded quantum evolutionary algorithm is used to optimize the characteristic parameters of the atom, and the best matching atom is selected adaptively to reconstruct the voltage fluctuation signal. And then calculate the short-time flicker severity P _ (st). The simulation results show that the calculation accuracy of short-time flicker severity P( st) can be improved based on Atom-RQEA method, and the validity and applicability of the proposed method are verified.
【作者单位】： 哈尔滨理工大学自动化学院;
【基金】：黑龙江省自然科学基金(E2015062)
【分类号】：TM711

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本文编号：2459257