GIS盆式绝缘子内部缺陷应力和电场仿真及其检测方法研究
【图文】:
华北电力大学硕士学位论文1.2 国内外研究现状1.2.1 GIS 主要缺陷类型大量相关资料及现场统计数据表明,目前 GIS 绝缘故障按产生原因可大致分为两类[10]:(1)过电压;(2)绝缘缺陷。其中绝缘缺陷是导致绝缘故障的主要原因,绝缘缺陷又可进一步分为 SF6中绝缘缺陷及绝缘子本身缺陷。具体缺陷类型如下图 1-1 所示。
华北电力大学硕士学位论文现在国内外研究较多的绝缘气隙实际放电模型有三电容模型,经典的三模型及等效电路如图 1-2 所示[18],图 1-2(b)中cR 、bR 、cC 、bC 分别及与气隙串联部分的等效电阻和电容,aR 、aC 表示其他部分电介质的与电容。然而经典的三电容模型不能很好地反应放电前后气隙电阻的变此,2000 年新加坡学者 A.C.Liew 等学者提出了图 1-3 所示的电容模型[1同图 1-2 中aC ,b1C -b2C 同图 1-2(b)中bC ,1C -9C 同图 1-2(b)中cC制与1C -9C 并联的开关可以模拟气隙不同部位的局部放电过程但其仿真描述电容充放电过程,,而不能较好反应绝缘介质内部气隙局部放电的真国内相关学者在考虑了气隙沿面绝缘电阻受放电影响而半导电化的情了图 1-4 示的局部放电仿真模型,aR 、bR 分别等效于气隙沿面绝缘电绝缘电阻。相比于传统的三电容模型,该模型的突出特点在于考虑了气经典三电容模型中cC 影响,更能真实地反应局放过程[20]。
【学位授予单位】:华北电力大学
【学位级别】:硕士
【学位授予年份】:2017
【分类号】:TM216
【参考文献】
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本文编号:2545595
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