插拔对电连接器接触性能退化规律影响的研究

发布时间：2020-01-27 11:14

【摘要】：电连接器作为一种基础元器件,其主要作用是实现电信号的传输和控制,在型号系统中应用广泛、数量众多、地位重要。为了满足型号系统日益提高的可靠性要求,系统对电连接器的贮存寿命要求已达到20~30年。目前在评估电连接器的贮存寿命时,主要考虑了温度对其性能退化的影响,尚未考虑测试过程中插拔的影响。本文以型号上常用的Y11P-1419型电连接器为研究对象,在分析电连接器的贮存环境效应和失效机理的基础上,通过加速退化试验揭示了插拔对电连接器接触性能的影响规律,并利用试验数据对考虑插拔的电连接器贮存可靠度和贮存寿命进行了评估,为进一步的研究奠定了基础。全文共分五章,每章的主要内容如下:第一章阐述了论文的研究背景和重要意义,介绍了贮存可靠性、加速退化试验技术以及电连接器贮存可靠性的国内外研究现状及其存在的问题,进而提出了本文的研究目标和主要的研究内容。第二章总结了型号上常用电连接器的结构、类型和功能要求,基于电连接器的贮存环境效应和失效模式分析,确定了接触失效是电连接器的主要失效模式,并从微观层面上研究了贮存过程中插拔对电连接器接触性能的影响,得到了插拔会磨损接触表面的镀金层和氧化物膜层,加快后期贮存过程中接触表面氧化膜层的增长速率,同时插拔会使电连接器的接触电阻突然增大。第三章设计了不考虑插拔和考虑插拔的加速退化试验,利用接触电阻的加速退化轨迹验证了插拔对电连接器接触性能的影响,得出了插拔不仅会加快电连接器的退化速率,而且会使电连接器接触电阻的退化轨迹产生跳变现象,并对跳变的幅度和跳变的回弹时间进行了分析,最后利用扫描电镜和能谱分析证实了考虑插拔的电连接器接失效机理。第四章根据电接触理论推导出了考虑插拔的电连接器贮存可靠性评估模型,并采用最小二乘法估计出了上述模型中的参数,运用上述模型得出了考虑插拔的电连接器贮存可靠度,利用加速退化试验所得数据预测了考虑插拔的电连接器贮存寿命,估计出在正常环境下电连接器的贮存寿命约为32年。第五章总结了全文的研究内容,并对下一步的研究方向进行了展望。
【学位授予单位】：浙江理工大学
【学位级别】：硕士
【学位授予年份】：2017
【分类号】：TM503.5

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本文编号：2573608