油浸纸绝缘套管的水分定位研究

发布时间：2020-07-21 09:38

【摘要】：水分对油浸纸(OIP)绝缘套管的介电性能会产生不利影响。它不仅会降低绝缘的介电强度以及击穿强度,并且会导致绝缘材料的劣化,引发套管故障,进而引起变压器和电力系统故障。大多数套管故障是由于水分侵入高压电力变压器绝缘套管引起的。目前,基于频域介电谱(FDS)的测量方法被广泛应用于绝缘状况的检测。它可以确定绝缘套管中的水分,并反映整体绝缘性能的变化。本研究采用FDS方法,研究了由三层电容屏构成的15kV OIP套管模型,研究了水分及受潮部位在实验室条件下对OIP绝缘套管的影响。研究结果表明,OIP绝缘套管中的水分导致绝缘呈现出高电容(C)和介损因数(DF)。关于OIP绝缘套管中水分位置的影响,研究结果表明,水分高度集中在最内层和中层,且FDS对于绝缘较薄的套管中水分的检测和定位比在绝缘较厚的套管中更灵敏。研究结果还表明,OIP绝缘套管内的水分对绝缘参数有很大影响,如C,DF,绝缘电阻IR和相对介电常数ε*的实部。其中,DF是预测OIP绝缘套管中水分的最佳参数。最后,水分的增加会表现为低频下tanδ(DF)的最大值显著增加,而tanδ最小值逐渐增加,这可以作为评估绝缘套管中水分的诊断参数。
【学位授予单位】：华北电力大学(北京)
【学位级别】：硕士
【学位授予年份】：2019
【分类号】：TM855;TM934.3

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本文编号：2764239