基于漏缆的周界入侵探测方法及其应用研究
【学位单位】:西安电子科技大学
【学位级别】:博士
【学位年份】:2019
【中图分类】:TM248.3;TP212;TP309
【部分图文】:
基带放大器电路图2 是其 S 参数及稳定性仿真结果。m1freq=dB(S(1,1))=-14.9512.000kHzm2freq=dB(S(2,1))=30.2031.000kHzm3freq=dB(S(2,1))=31.890Max13.42MHzm5freq=dB(S(2,1))=30.000772.3MHz
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本文编号:2862023
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