直流GIL内金属微粒对表面电荷积聚影响的三维仿真及实验研究

发布时间：2017-09-02 17:20

  本文关键词：直流GIL内金属微粒对表面电荷积聚影响的三维仿真及实验研究

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【摘要】：针对直流GIL中金属微粒污染问题,该文研究了其对模型绝缘子表面电荷积聚的影响。基于麦克斯韦理论,纳入微粒污染以及气体侧空间离子的产生、复合、迁移、扩散等作用,建立了微粒污染情况下包含气体侧微观机制的绝缘子表面电荷积聚模型,利用COMSOL软件对三维情况下绝缘子形状、金属微粒不同黏附形态以及不同气体环境对表面电荷积聚的影响进行了求解分析,同时搭建了考虑导电微粒情况的电荷测量平台,对仿真中典型设置进行实验,验证仿真结果的正确性。研究表明,随截面底角减小,电荷更多积聚于绝缘子表面;黏附于绝缘子表面的金属微粒会引起表面电荷大积聚激增,沿高低压电极连线黏附微粒引起积聚最明显;气体环境改变会引起表面电荷积聚发生改变,低气压时更易积聚电荷。
【作者单位】： 华北电力大学电气与电子工程学院;
【关键词】： 直流GIL 表面电荷积聚 微粒黏附 微观机制 三维仿真
【基金】：国家重点基础研究发展计划项目(973项目)(2014CB239502)~~
【分类号】：TM216
【正文快照】： 0引言 中国迅速发展的社会经济对特高压直流输电的需求日益突出,而直流GIL以其大容量、高电压、高可靠性的优势,具有巨大的应用前景。但是,在直流GIL运行过程中,绝缘子的沿面闪络始终是限制其大规模应用的难题,有研究表明,金属微粒污染与支撑绝缘表面存在电荷积聚是引起闪络

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本文编号：779870